Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Абрукин, Я.А. - Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ
Абрукин, Я.А. - Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Абрукин, Я.А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых института точной механики и вычислительной техники им. С.А. Лебедева АН СССР
Издательство: ИТМ и ВТ, 1976 г.
ISBN отсутствует
Автор: Абрукин, Я.А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых института точной механики и вычислительной техники им. С.А. Лебедева АН СССР
Издательство: ИТМ и ВТ, 1976 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 А16
Абрукин, Я.А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых института точной механики и вычислительной техники им. С.А. Лебедева АН СССР / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский. – Москва : ИТМ и ВТ, 1976. – 17 с. : ил. : 0.08.
621.382.3.015.51
681.327.6-185.4
общий = ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА
общий = ТРАНЗИСТОРНЫЕ КЛЮЧИ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ТРИОДЫ
621.3 А16
Абрукин, Я.А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых института точной механики и вычислительной техники им. С.А. Лебедева АН СССР / Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский. – Москва : ИТМ и ВТ, 1976. – 17 с. : ил. : 0.08.
621.382.3.015.51
681.327.6-185.4
общий = ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА
общий = ТРАНЗИСТОРНЫЕ КЛЮЧИ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ТРИОДЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |