Электронный каталог НБ БНТУ

Книга (аналит. описание)

Кудина, Анна Вячеславовна.
Основы процессов, приводящих к неисправностям электронных устройств = Basics of processes leading to malfunctions of electronic devices / А. В. Кудина, Е. П. Франко, В. Л. Габец // Приборостроение - 2025 = Instrumentation engineering - 2025 : материалы 18-й Международной научно-технической конференции, 13—15 ноября 2025 года, Минск, Республика Беларусь / редакционная коллегия: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск : БНТУ, 2025. – С. 339-341. – URL: https://rep.bntu.by/handle/data/162649.

Не существует такой техники, которая обладала бы абсолютной надежностью. Всегда будут иметь место различные дефекты и неисправности. Для их ремонта необходимо правильно обнаруживать поломку. Рассмотрены основные причины появления неисправностей, а также способы их диагностики.
There is no equipment that possesses absolute reliability. There will always be various defects and malfunctions. To repair them, it is essential to correctly identify the problem. This work examines the main principles of malfunction detection, as well as methods for their diagnosis.

621.396.6

общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2025г.
труды сотрудников БНТУ = Электроника. Радиоэлектроника (труды)
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Конструирование и производство приборов"
общий = РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ УСТРОЙСТВА
общий = НЕИСПРАВНОСТИ
общий = ДИАГНОСТИКА
труды сотрудников БНТУ = Совместные публикации (труды) : Республика Беларусь : Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники