Электронный каталог НБ БНТУ

Книга (аналит. описание)

Диагностика качества интегральных микросхем с применением современных датчиков и систем = Diagnostics of the quality of integrated circuits using modern sensors and systems / А. В. Кудина, А. А. Васильева, А. Н. Леонович, В. Л. Габец // Приборостроение - 2024 = Instrumentation engineering - 2024: Материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск: Интегралполиграф, 2024. – С. 401-402. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/153174.

Современные методы диагностики ИС включают как автоматизированные системы, так и продвинутые технологии, которые обеспечивает создание сложных микросхем с минимальными дефектами.
Modern methods of diagnostics of integrated systems include both automated systems and advanced technologies that ensure the creation of complex chips with minimal defects.

621.382.049.77

общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2024г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Конструирование и производство приборов"
труды сотрудников БНТУ = Электроника. Радиоэлектроника (труды)
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = ТЕСТЕРЫ
общий = КАЧЕСТВО
общий = ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА