Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Багдюн, А.А. - Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств изме...
Багдюн, А.А. - Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств изме...
Статья
Автор: Багдюн, А.А.
Метрология и приборостроение: Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств изме...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Багдюн, А.А.
Метрология и приборостроение: Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств изме...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Багдюн, А.А.
Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств измерений / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо, Ю. С. Иванов // Метрология и приборостроение. – 2025. – № 1. – С. 35-37.
В данной работе проанализированы проблемы, возникающие при проведении работ по метрологической оценке микроскопов и профилометров с помощью вышеупомянутых мер.
531.711
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2025г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Стандартизация, метрология и информационные системы"
труды сотрудников БНТУ = Метрология. Стандартизация. Сертификация (труды)
общий = МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
общий = СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
общий = НАНОМЕТРОЛОГИЯ
общий = МИКРОМЕТРЫ
Багдюн, А.А.
Анализ мер в микро- и нанометровом диапазоне, применяемых при метрологической оценке средств измерений / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо, Ю. С. Иванов // Метрология и приборостроение. – 2025. – № 1. – С. 35-37.
В данной работе проанализированы проблемы, возникающие при проведении работ по метрологической оценке микроскопов и профилометров с помощью вышеупомянутых мер.
531.711
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2025г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Стандартизация, метрология и информационные системы"
труды сотрудников БНТУ = Метрология. Стандартизация. Сертификация (труды)
общий = МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
общий = СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
общий = НАНОМЕТРОЛОГИЯ
общий = МИКРОМЕТРЫ

На полку
