Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Францкевич, Анатолий Викторович - Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости ...
Францкевич, Анатолий Викторович - Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости ...
Книга (аналит. описание)
Автор: Францкевич, Анатолий Викторович
Приборостроение - 2024: Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости ...
Influence of packing density of a deep thin layer of SIxO1-x on the change in the spectral dependence of photo-EMF
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Францкевич, Анатолий Викторович
Приборостроение - 2024: Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости ...
Influence of packing density of a deep thin layer of SIxO1-x on the change in the spectral dependence of photo-EMF
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Францкевич, Анатолий Викторович.
Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости фото-ЭДС = Influence of packing density of a deep thin layer of SIxO1-x on the change in the spectral dependence of photo-EMF / А. В. Францкевич, Н. В. Францкевич, В. А. Мартинович // Приборостроение - 2024 = Instrumentation engineering - 2024: Материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск: Интегралполиграф, 2024. – С. 287-288. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/153112.
Одна из технологий (TOPCon) по производству солнечных элементов активно развиваемых на сегодняшний день, это создание с тыльной стороны солнечного элемента пассивирующего отражающего слоя SiO2. В своих предыдущих исследованиях мы изучали возможность формирования структуры SiSixOySi в результате геттерирования кислорода на слое предварительно созданных дефектов. Полученная структура может работать как отражающий слой в солнечном элементе при условии ее освещения не с лицевой, а с тыльной стороны. Пластины Cz-Si n-типа имплантировались водородом разными дозами, обрабатывались в DC плазме кислорода при T = 350 оС, и отжигались в вакууме при Т = 700 оС. В результате формировалась островковая структура SiSixOySi. Размер островков и плотность их упаковки зависит от дозы предимплантированного водорода и условий плазменной обработки. Для полученных структур изучалась спектральная зависимость фото-ЭДС, при освещении образцов с лицевой и тыльной стороны. Полученные результаты показывают об изменении спектрального диапазона в котором регистрируется фото-ЭДС, в зависимости от дозы предимплантированного водорода, т.е. размера и плотности упаковки островков SixOy.
One of the technologies for the production of solar cells actively developed today is the creation of a reflective layer of SiO2 on the back side of the solar cell. In our previous studies, we studied the possibility of forming a SiSixOySi structure as a result of oxygen gettering on a layer of pre-created defects. The resulting structure can work as a reflective layer in a solar cell, provided that it is illuminated not from the front, but from the back side. N-type Cz-Si wafers were implanted with hydrogen in different doses, processed in DC oxygen plasma at T = 350 оC, and annealed in vacuum at Т = 700 оС. As a result, an island structure of SiSixOySi was formed. The size of the islands and the density of their packing depend on the dose of pre-implanted hydrogen and the conditions of plasma treatment. For the obtained structures, the spectral dependence of the photo-EMF was studied when illuminating the samples from the front and back sides. The obtained results show a change in the spectral range in which photo-EMF is registered, depending on the size and packing density of SixOy islands.
621.315.592
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2024г.
труды сотрудников БНТУ = Научно-исследовательский политехнический институт (НИПИ) : НИЛ оптико-электронного приборостроения
труды сотрудников БНТУ = Факультет информационных технологий и робототехники : кафедра "Техническая физика"
труды сотрудников БНТУ = Электротехника (труды)
общий = ФОТОЭДС
общий = СОЛНЕЧНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ
Францкевич, Анатолий Викторович.
Влияние плотности упаковки глубинного тонкого слоя SIxO1-x на изменение спектральной зависимости фото-ЭДС = Influence of packing density of a deep thin layer of SIxO1-x on the change in the spectral dependence of photo-EMF / А. В. Францкевич, Н. В. Францкевич, В. А. Мартинович // Приборостроение - 2024 = Instrumentation engineering - 2024: Материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск: Интегралполиграф, 2024. – С. 287-288. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/153112.
Одна из технологий (TOPCon) по производству солнечных элементов активно развиваемых на сегодняшний день, это создание с тыльной стороны солнечного элемента пассивирующего отражающего слоя SiO2. В своих предыдущих исследованиях мы изучали возможность формирования структуры SiSixOySi в результате геттерирования кислорода на слое предварительно созданных дефектов. Полученная структура может работать как отражающий слой в солнечном элементе при условии ее освещения не с лицевой, а с тыльной стороны. Пластины Cz-Si n-типа имплантировались водородом разными дозами, обрабатывались в DC плазме кислорода при T = 350 оС, и отжигались в вакууме при Т = 700 оС. В результате формировалась островковая структура SiSixOySi. Размер островков и плотность их упаковки зависит от дозы предимплантированного водорода и условий плазменной обработки. Для полученных структур изучалась спектральная зависимость фото-ЭДС, при освещении образцов с лицевой и тыльной стороны. Полученные результаты показывают об изменении спектрального диапазона в котором регистрируется фото-ЭДС, в зависимости от дозы предимплантированного водорода, т.е. размера и плотности упаковки островков SixOy.
One of the technologies for the production of solar cells actively developed today is the creation of a reflective layer of SiO2 on the back side of the solar cell. In our previous studies, we studied the possibility of forming a SiSixOySi structure as a result of oxygen gettering on a layer of pre-created defects. The resulting structure can work as a reflective layer in a solar cell, provided that it is illuminated not from the front, but from the back side. N-type Cz-Si wafers were implanted with hydrogen in different doses, processed in DC oxygen plasma at T = 350 оC, and annealed in vacuum at Т = 700 оС. As a result, an island structure of SiSixOySi was formed. The size of the islands and the density of their packing depend on the dose of pre-implanted hydrogen and the conditions of plasma treatment. For the obtained structures, the spectral dependence of the photo-EMF was studied when illuminating the samples from the front and back sides. The obtained results show a change in the spectral range in which photo-EMF is registered, depending on the size and packing density of SixOy islands.
621.315.592
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2024г.
труды сотрудников БНТУ = Научно-исследовательский политехнический институт (НИПИ) : НИЛ оптико-электронного приборостроения
труды сотрудников БНТУ = Факультет информационных технологий и робототехники : кафедра "Техническая физика"
труды сотрудников БНТУ = Электротехника (труды)
общий = ФОТОЭДС
общий = СОЛНЕЧНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ

На полку
