Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Багдюн, А.А. - Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, н...
Багдюн, А.А. - Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, н...
Книга (аналит. описание)
Автор: Багдюн, А.А.
Приборостроение - 2024: Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, н...
Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Багдюн, А.А.
Приборостроение - 2024: Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, н...
Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Багдюн, А.А.
Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе = Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо // Приборостроение - 2024 = Instrumentation engineering - 2024: Материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск: Интегралполиграф, 2024. – С. 112-113. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/153028.
В работе были проанализированы источники погрешностей средств измерений, используемых для определения размеров наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе. На основании проведенного анализа была сформирована классификационная схема источников погрешностей, позволяющая проводить валидацию метрологических моделей не исключенной систематической погрешности измерений размеров наночастиц.
The paper analyzes sources of errors in measuring instruments used to determine the sizes of nanoparticles on a substrate, in liquid, and in air. Based on the analysis, a classification scheme of error sources was formed. This allows validation of metrological models of non-excluded systematic error in measuring the sizes of nanoparticles.
531.7
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2024г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Стандартизация, метрология и информационные системы"
труды сотрудников БНТУ = Метрология. Стандартизация. Сертификация (труды)
общий = НАНОЧАСТИЦЫ
общий = СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
общий = ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ
общий = РАЗМЕРЫ
общий = ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
Багдюн, А.А.
Классификационная схема источников погрешностей средств измерений, используемых для наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе = Classification scheme of errors in measuring instruments used for nanoparticles on a substrate, in liquid and in air / А. А. Багдюн, В. Л. Соломахо // Приборостроение - 2024 = Instrumentation engineering - 2024: Материалы 17-й Международной научно-технической конференции, 26-29 ноября 2024 года, Минск, Республика Беларусь / редкол.: А. И. Свистун (председатель) [и др.]. – Минск: Интегралполиграф, 2024. – С. 112-113. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/153028.
В работе были проанализированы источники погрешностей средств измерений, используемых для определения размеров наночастиц, находящихся на подложке, в жидкости и в воздухе. На основании проведенного анализа была сформирована классификационная схема источников погрешностей, позволяющая проводить валидацию метрологических моделей не исключенной систематической погрешности измерений размеров наночастиц.
The paper analyzes sources of errors in measuring instruments used to determine the sizes of nanoparticles on a substrate, in liquid, and in air. Based on the analysis, a classification scheme of error sources was formed. This allows validation of metrological models of non-excluded systematic error in measuring the sizes of nanoparticles.
531.7
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2024г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Стандартизация, метрология и информационные системы"
труды сотрудников БНТУ = Метрология. Стандартизация. Сертификация (труды)
общий = НАНОЧАСТИЦЫ
общий = СРЕДСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
общий = ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРЕНИЙ
общий = РАЗМЕРЫ
общий = ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ

На полку
