Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Соловьев, Я.А. - Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум

Соловьев, Я.А. - Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум

Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум
Доступно
 1 из 1
Книга
Автор:
Соловьев, Я.А.
Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум : пособие для специальности 1-39 80 03 "Электронные системы и технологии"
Издательство: БГУИР, 2022 г.
ISBN 9789855436127

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
621.3 С60

Соловьев, Я.А.
Специальные материалы и субмикронные компоненты. Лабораторный практикум: пособие для специальности 1-39 80 03 "Электронные системы и технологии" / Я. А. Соловьев, Г. М. Шахлевич, А. Н. Петлицкий; Министерство образования Республики Беларусь, Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники", Факультет компьютерного проектирования, Кафедра электронной техники и технологии. – Минск: БГУИР, 2022. – 103 с.: ил., табл. - Содерж.: Исследование дефектов кристаллического строения кремниевых подложек микросхем ; Исследование характеристик многослойных оптически прозрачных плёнок на кремнии ; Исследование топологии и элементного состава полупроводниковых структур ; Исследование электрофизических характеристик субмикронных полупроводниковых структур ; Изучение характеристик транзисторно-транзисторных логических интегральных схем ; Моделирование и исследование характеристик микросхем на КМОП-транзисторах. - ISBN 9789855436127: 8.80.

Включает в себя лабораторные работы по исследованию дефектов кристаллического строения кремниевых подложек микросхем, топологии, элементного состава и электрофизических свойств субмикронных полупроводниковых структур, характеристик многослойных оптически прозрачных пленок на кремнии, а также моделированию и исследованию характеристик транзисторно-транзисторных логических микросхем и микросхем на КМОП-транзисторах.

ГРНТИ 47.33.31
ГРНТИ 47.09.29
ГРНТИ 47.01.33
621.382.049.77(076.5)(075.8)
621.38-03:621.315.592(076.5)(075.8)

гриф = есть : Республика Беларусь
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВАЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
Филиал Всего Доступно для брони Доступно для выдачи Бронирование
ОХОФ 1 1 1 Заказать

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121