Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Книга (аналит. описание)
Автор:
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов: Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Methods of device layers mapping for semiconductor wafers
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов: Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин
Methods of device layers mapping for semiconductor wafers
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин = Methods of device layers mapping for semiconductor wafers / Р. И. Воробей [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / Белорусско-Российский университет ; отв. ред. И. С. Сазонов. – Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. – С. 210-215. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/91961. - Книги нет в фонде библиотеки. – На рус. яз.
В статье выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем в режиме статической либо динамической фотоЭДС, отличающихся полностью неразрушающим характером измерений и позволяющих получить ряд новых количественных и качественных характеристик приборных слоев.
620.179
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2017г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
труды сотрудников БНТУ = Материаловедение. Сопротивление материалов (труды)
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПЛАСТИНЫ
общий = ЭЛЕКТРОДВИЖУЩАЯ СИЛА
общий = КАРТОГРАФИРОВАНИЕ
общий = ЭЛЕКТРОМЕТРИЯ
Методы картирования приборных слоев полупроводниковых пластин = Methods of device layers mapping for semiconductor wafers / Р. И. Воробей [и др.] // Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г. / Белорусско-Российский университет ; отв. ред. И. С. Сазонов. – Могилев: Белорусско-Российский университет, 2017. – С. 210-215. – Режим доступа : https://rep.bntu.by/handle/data/91961. - Книги нет в фонде библиотеки. – На рус. яз.
В статье выполнен сравнительный анализ методов картирования приборных слоев полупроводниковых пластин. Показана перспективность методов на основе регистрации изменений потенциала поверхности зондовым электрометрическим преобразователем в режиме статической либо динамической фотоЭДС, отличающихся полностью неразрушающим характером измерений и позволяющих получить ряд новых количественных и качественных характеристик приборных слоев.
620.179
общий = БД Труды научных работников БНТУ : 2017г.
труды сотрудников БНТУ = Приборостроительный факультет : кафедра "Информационно-измерительная техника и технологии"
труды сотрудников БНТУ = Материаловедение. Сопротивление материалов (труды)
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПЛАСТИНЫ
общий = ЭЛЕКТРОДВИЖУЩАЯ СИЛА
общий = КАРТОГРАФИРОВАНИЕ
общий = ЭЛЕКТРОМЕТРИЯ
Привязано к:
Книга
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г.
Белорусско-Российский университет, 2017 г.
ISBN 9789854921969
Современные методы и приборы контроля качества и диагностики состояния объектов : сборник статей 6-й Международной научно-технической конференции, Могилев, 19-20 сентября 2017 г.
Белорусско-Российский университет, 2017 г.
ISBN 9789854921969