Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Парашков, С.О. - Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур
Парашков, С.О. - Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур
Автореферат
Автор: Парашков, С.О.
Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
2017 г.
ISBN отсутствует
Автор: Парашков, С.О.
Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
2017 г.
ISBN отсутствует
На полку
Автореферат
А-38856
Парашков, С.О.
Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 01.04.05 Оптика / Парашков Семен Олегович; Учреждение образования "Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины". – Гомель, 2017. – 22 с.
общий = ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
общий = ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ
общий = НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ
общий = СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = ОПТИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ
общий = СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ
общий = СЛОИСТЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ УСТРОЙСТВА
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
общий = НАНОПЛЕНКИ
общий = ТОНКИЕ ОПТИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
общий = волноводная спектроскопия
А-38856
Парашков, С.О.
Оптимизированные методы исследования оптических характеристик тонкопленочных структур: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 01.04.05 Оптика / Парашков Семен Олегович; Учреждение образования "Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины". – Гомель, 2017. – 22 с.
общий = ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ОПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
общий = ИССЛЕДОВАНИЙ МЕТОДЫ
общий = НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ
общий = СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = ОПТИЧЕСКАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = РЕФЛЕКТОМЕТРИЯ
общий = СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ
общий = СЛОИСТЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ДИФРАКЦИОННЫЕ РЕШЕТКИ
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ УСТРОЙСТВА
общий = ЭЛЕКТРОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
общий = НАНОПЛЕНКИ
общий = ТОНКИЕ ОПТИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ
общий = волноводная спектроскопия
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ЧЗ НР | 1 | - | - | Недоступно |