Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Defects in hIgh-k gate dielectric stacks

Defects in hIgh-k gate dielectric stacks

Defects in hIgh-k gate dielectric stacks
Доступно
 1 из 1
Книга
Автор:
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices
Серия: NATO science series
Издательство: Springer, 2005 г.
ISBN 9781402043666

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
621.3 D30

Defects in hIgh-k gate dielectric stacks: nano-electronic semiconductor devices: [proceedings of the NATO advanced research workshop on defects in advanced high-k dielectric nano-electronic semiconductor devices, St. Petersburg, Russia, July 11-14, 2005] / ed. by Evgeni Gusev. – Dordrecht [etc.]: Springer, 2005. – X, 492 p.: fig., tab., phot. – (NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry; vol.220) . - ISBN 9781402043666 (140204366X): 88.00.

621.382:620.22(063)

общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = НАНОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ДЕФЕКТЫ
общий = МАТЕРИАЛЫ
Филиал Всего Доступно для брони Доступно для выдачи Бронирование
ЧЗ ЗИ 1 1 1 Заказать

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121