Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Defects in hIgh-k gate dielectric stacks
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор:
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices
Серия: NATO science series
Издательство: Springer, 2005 г.
ISBN 9781402043666
Автор:
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices
Серия: NATO science series
Издательство: Springer, 2005 г.
ISBN 9781402043666
Заказать 
На полку
Книга
621.3 D30
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices : [proceedings of the NATO advanced research workshop on defects in advanced high-k dielectric nano-electronic semiconductor devices, St. Petersburg, Russia, July 11-14, 2005] / ed. by Evgeni Gusev. – Dordrecht [etc.] : Springer, 2005. – X, 492 p. : fig., tab., phot. – (NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry ; vol.220). – ISBN 9781402043666 (140204366X) : 88.00.
621.382:620.22(063)
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = НАНОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ДЕФЕКТЫ
общий = МАТЕРИАЛЫ
621.3 D30
Defects in hIgh-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices : [proceedings of the NATO advanced research workshop on defects in advanced high-k dielectric nano-electronic semiconductor devices, St. Petersburg, Russia, July 11-14, 2005] / ed. by Evgeni Gusev. – Dordrecht [etc.] : Springer, 2005. – X, 492 p. : fig., tab., phot. – (NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry ; vol.220). – ISBN 9781402043666 (140204366X) : 88.00.
621.382:620.22(063)
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
общий = ДИЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОНИЦАЕМОСТЬ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = НАНОЭЛЕКТРОНИКА
общий = ДЕФЕКТЫ
общий = МАТЕРИАЛЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ЧЗ ЗИ | 1 | 1 | 1 | Заказать |