Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Будаи, Б.Т. - Уменьшение искажений в оптических измерительных системах
Будаи, Б.Т. - Уменьшение искажений в оптических измерительных системах
Статья
Автор: Будаи, Б.Т.
Измерительная техника: Уменьшение искажений в оптических измерительных системах
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Будаи, Б.Т.
Измерительная техника: Уменьшение искажений в оптических измерительных системах
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Будаи, Б.Т.
Уменьшение искажений в оптических измерительных системах / Б.Т. Будаи, И.В. Мякутина, Н.В. Касаткин // Измерительная техника: научно-технический журнал / гл. ред. В.Н. Крутиков; учредитель Российская Федерация. Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии имени Д. И. Менделеева (Санкт-Петербург), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (Москва), ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии, Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы (Москва), ФГУП "Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия", Метрологическая академия, Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (городской поселок Менделеево, Московская область). – 2015. – N6. – С.37-40.
Показано, что в оптических измерительных системах погрешности измерений координат объекта во многом зависят от искажений изображений
общий = БД Техника
общий = ИЗОБРАЖЕНИЯ
общий = ЭМПИРИЧЕСКИЕ ФОРМУЛЫ
общий = ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
общий = РАСЧЕТА МЕТОДЫ
Будаи, Б.Т.
Уменьшение искажений в оптических измерительных системах / Б.Т. Будаи, И.В. Мякутина, Н.В. Касаткин // Измерительная техника: научно-технический журнал / гл. ред. В.Н. Крутиков; учредитель Российская Федерация. Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии имени Д. И. Менделеева (Санкт-Петербург), Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений (Москва), ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии, Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы (Москва), ФГУП "Российский научно-технический центр информации по стандартизации, метрологии и оценке соответствия", Метрологическая академия, Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений (городской поселок Менделеево, Московская область). – 2015. – N6. – С.37-40.
Показано, что в оптических измерительных системах погрешности измерений координат объекта во многом зависят от искажений изображений
общий = БД Техника
общий = ИЗОБРАЖЕНИЯ
общий = ЭМПИРИЧЕСКИЕ ФОРМУЛЫ
общий = ОПТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ
общий = РАСЧЕТА МЕТОДЫ
