Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Чигринов, В.Г. - Оптимизация метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электр...

Чигринов, В.Г. - Оптимизация метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электр...

Оптимизация метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электр...
Статья
Автор:
Чигринов, В.Г.
Обзоры по электронной технике. Серия 8: Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания: Оптимизация метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Чигринов, В.Г.
Оптимизация метода нематических жидких кристаллов для дефектоскопии твердых поверхностей в электрическом поле / В.Г. Чигринов, Т.В. Коркишко, Г.Е. Невская, А.Е. Рубцов // Обзоры по электронной технике. Серия 8: Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания / кол. авт. "Электроника", институт (Москва). – 1989. – Вып.2. – С. 1-51.

539.21:620.179.1:532.783

общий = БД Информационные издания
общий = НЕМАТИЧЕСКИЕ ЖИДКИЕ КРИСТАЛЛЫ
общий = ДЕФЕКТОСКОПИЯ

Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Обзоры по электронной технике. Серия 8: Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания
Экз. чит. зала
Выпуск
"Электроника", институт (Москва)
Обзоры по электронной технике. Серия 8: Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания Вып.2
ЦНИИ "Электроника", 1989 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ ИИ


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121