Электронный каталог НБ БНТУ

rus

Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога
ФИЛИАЛЫ
КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Альфорд, Терри Л. - Фундаментальные основы анализа нанопленок

Альфорд, Терри Л. - Фундаментальные основы анализа нанопленок

Фундаментальные основы анализа нанопленок

Доступно
1 из 1

Книга
Автор: Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Издательство: Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9

Заказать

На полку

Книга
53 А59

Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок: пер. с англ. / Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер; пер. А.Н. Образцов, М.А. Долганов; науч. ред. А.Н. Образцов. – Москва: Научный мир, 2012. – 390 с.: ил. – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники / Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Научно-образовательный центр по нанотехнологиям ) . – На рус. яз. - ISBN 978-5-915222-25-9: 329520.00.

ГРНТИ 29.19.04
ГРНТИ 29.19.16
539.216.2-022.532
539.24/.27

общий = АТОМНЫЕ СТОЛКНОВЕНИЯ
общий = ЭЛЕКТРОНЫ
общий = ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = НАНОПЛЕНКИ
общий = ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
общий = ЭЛЕМЕНТАРНЫЕ ЧАСТИЦЫ
общий = ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ
общий = РЕНТГЕНОВСКОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ

Филиал

Всего

Доступно для брони

Доступно для выдачи

Бронирование

ОХОФ

1

1

1

Заказать