Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Глудкин, О.П. - Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий
Глудкин, О.П. - Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанов. – Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. – 36 с. : ил. – (Обзоры по электронной технике ; вып.3(733). Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация). – На тит. л. авт. не указаны : 0.30.
621.382.049.77-747(048.8)
общий = МИКРОЭЛЕМЕНТЫ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1977 гг.) / О.П. Глудкин, А.Л. Русанов. – Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. – 36 с. : ил. – (Обзоры по электронной технике ; вып.3(733). Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация). – На тит. л. авт. не указаны : 0.30.
621.382.049.77-747(048.8)
общий = МИКРОЭЛЕМЕНТЫ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |