Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Васильева, И.А. - Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...
Васильева, И.А. - Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...
Книга
Автор: Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв... : (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует
Автор: Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв... : (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 В19
Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при производстве МДП БИС: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.) / И.А. Васильева, Г.А. Филаретов, А.С. Яковлев. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1978. – 46 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.4(603). Серия 3, Микроэлектроника) . - На тит. л. авт. не указаны: 0.50.
621.382.049.77.002
общий = КРЕМНИЕВЫЕ ПЛАСТИНЫ
621.3 В19
Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при производстве МДП БИС: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.) / И.А. Васильева, Г.А. Филаретов, А.С. Яковлев. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1978. – 46 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.4(603). Серия 3, Микроэлектроника) . - На тит. л. авт. не указаны: 0.50.
621.382.049.77.002
общий = КРЕМНИЕВЫЕ ПЛАСТИНЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |