Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Садчиков, П.И. - Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...

Садчиков, П.И. - Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...

Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...
Доступно
 1 из 1
Книга
Автор:
Садчиков, П.И.
Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...
Серия: В помощь слушателям Семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции при Политехническом музее
Издательство: Знание, 1979 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
621.3 С14

Садчиков, П.И.
Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-математической модели / П.И. Садчиков. – Москва: Знание, 1979. – 110 с.: табл. – (В помощь слушателям Семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции при Политехническом музее) . - В надзаг.: Всесоюзное общество "Знание", Политехнический музей, Государственный комитет СССР по стандартам, Всесоюзный совет научно-технических обществ.: 0.30.

621.382.049.77.019.3
621.382.049.77.002:658.62.018.012

общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = НАДЕЖНОСТЬ (техн.)
общий = РАСЧЕТЫ НА ЭВМ
Филиал Всего Доступно для брони Доступно для выдачи Бронирование
ОХОФ 1 1 1 Заказать

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники
Книга (аналит. описание)
Абрамов, В.А.
Аналитические методы системного подхода к управлению качеством изделий микроэлектроники
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121