Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор:
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Издательство: ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
Автор:
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Издательство: ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
Заказать 
На полку
Книга
621.3 М54
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А.И. Белоус, А.С. Турцевич, Г.Г. Чигирь, А.В. Емельянов ; кол. авт. Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины. – Гомель : ГГУ им. Ф.Скорины, 2011. – 239 с. : ил. – ISBN 978-985-439-551-7 : 15000.00.
ГРНТИ 47.33.31
621.382.049.77.019.3
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ОПЕРАЦИОННЫЙ КОНТРОЛЬ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ
общий = ТЕСТОВЫЕ СТРУКТУРЫ
621.3 М54
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А.И. Белоус, А.С. Турцевич, Г.Г. Чигирь, А.В. Емельянов ; кол. авт. Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины. – Гомель : ГГУ им. Ф.Скорины, 2011. – 239 с. : ил. – ISBN 978-985-439-551-7 : 15000.00.
ГРНТИ 47.33.31
621.382.049.77.019.3
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ОПЕРАЦИОННЫЙ КОНТРОЛЬ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ
общий = ТЕСТОВЫЕ СТРУКТУРЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |