Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур

Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур

Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Доступно
 1 из 1
Книга
Автор:
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Издательство: ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
621.3 М54

Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур / А.И. Белоус, А.С. Турцевич, Г.Г. Чигирь, А.В. Емельянов; кол. авт. Гомельский государственный университет им. Франциска Скорины. – Гомель: ГГУ им. Ф.Скорины, 2011. – 239 с.: ил. - ISBN 978-985-439-551-7: 15000.00.

ГРНТИ 47.33.31
621.382.049.77.019.3

общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ГЕТЕРОСТРУКТУРЫ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ОПЕРАЦИОННЫЙ КОНТРОЛЬ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ
общий = ТЕСТОВЫЕ СТРУКТУРЫ
Филиал Всего Доступно для брони Доступно для выдачи Бронирование
ОХОФ 1 1 1 Заказать

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121