Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Доступно
2 из 2
2 из 2
Книга
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Книга
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих и др. ; под редакцией Д. Бриггса, М. П. Сиха ; редактора перевода В. И. Раховский, И. С. Рез. – Москва : Мир, 1987. – 598 с. : ил. – На рус. яз. : 6.40.
539.26
общий = ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
общий = ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии : пер. с англ. / М. П. Сих и др. ; под редакцией Д. Бриггса, М. П. Сиха ; редактора перевода В. И. Раховский, И. С. Рез. – Москва : Мир, 1987. – 598 с. : ил. – На рус. яз. : 6.40.
539.26
общий = ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
общий = ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
Заказать
На полку