Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Книга
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Издательство: Мир, 1987 г.
ISBN отсутствует
Книга
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: пер. с англ. / М. П. Сих и др.; под редакцией Д. Бриггса, М. П. Сиха; редактора перевода В. И. Раховский, И. С. Рез. – Москва: Мир, 1987. – 598 с.: ил. – На рус. яз.: 6.40.
539.26
общий = ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
общий = ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ
53 А64
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: пер. с англ. / М. П. Сих и др.; под редакцией Д. Бриггса, М. П. Сиха; редактора перевода В. И. Раховский, И. С. Рез. – Москва: Мир, 1987. – 598 с.: ил. – На рус. яз.: 6.40.
539.26
общий = ПОВЕРХНОСТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ
общий = ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ
общий = СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ

Заказать
На полку