Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena

Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena

Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena
Нет экз.
Выпуск
Автор:
Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena. N156-158
2009 г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Периодическое издание

Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena. - Пер. загл.:[Диффузии и дефекты данных Pt.B: Феномены твердого тела].
Выпуск

Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena. – 2009. – N156-158. - Пер. загл.:[Диффузии и дефекты данных Pt.B: Феномены твердого тела].

Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena
Периодическое издание

Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Buried insulating layer formation in Cz Si wafers after helium implantation, nitrogen plasma trea...
Статья
Frantskevich, N. V.
Buried insulating layer formation in Cz Si wafers after helium implantation, nitrogen plasma trea...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Copper in-depth distribution in hydrogen implanted Cz Si wafers subjected to two-step annealing
Статья
Frantskevich, A. V.
Copper in-depth distribution in hydrogen implanted Cz Si wafers subjected to two-step annealing
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121