Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Белоус, А.И. - Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Белоус, А.И. - Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем

Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Издательство: Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
Автор: Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Издательство: Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
Книга
621.3 Б43
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А.И. Белоус, А.В. Емельянов, Г.Г. Чигирь. – Минск : Интегралполиграф, 2008. – 207 с. : ил. – ISBN 978-985-684-511-9 : 42270.00.
ГРНТИ 47.13.11
ГРНТИ 47.01.81
621.382.049.77-027.3:658.562:005.6
общий = УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = КАЧЕСТВО ПРОДУКЦИИ
общий = КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ
621.3 Б43
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А.И. Белоус, А.В. Емельянов, Г.Г. Чигирь. – Минск : Интегралполиграф, 2008. – 207 с. : ил. – ISBN 978-985-684-511-9 : 42270.00.
ГРНТИ 47.13.11
ГРНТИ 47.01.81
621.382.049.77-027.3:658.562:005.6
общий = УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ
общий = МИКРОЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = КАЧЕСТВО ПРОДУКЦИИ
общий = КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА
общий = КОНТРОЛЬ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
общий = ТЕСТОВОЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Заказать
На полку