Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Dummer, G.W.A. - Microelectronics and Reliability

Dummer, G.W.A. - Microelectronics and Reliability

Microelectronics and Reliability
Доступно
 1 из 1
Выпуск
Автор:
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability : An International Journal & World Abstracting Service. Vol.31, N2-3
Микроэлектроника
Издательство: Pergamon Press, 1991 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Периодическое издание

Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника: an international journal & world abstracting service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc.: Pergamon Press. - Научно-технический журнал по микроэлектронике публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике. Статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники. Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем. - ISSN 0026-2714.
Выпуск

Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника: An International Journal & World Abstracting Service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc.: Pergamon Press, 1991. – Vol.31, N2-3. - Научно-технический журнал по микроэлектронике, публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике, статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники.Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем.

Филиал Всего Доступно для брони Доступно для выдачи Бронирование
ЧЗ ЗИ 1 1 1 Заказать

Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Microelectronics and Reliability
Периодическое издание
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability: an international journal & world abstracting service
Микроэлектроника
Pergamon Press, б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121