Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Dummer, G.W.A. - Microelectronics and Reliability
Dummer, G.W.A. - Microelectronics and Reliability
Доступно
1 из 1
1 из 1
Выпуск
Автор: Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability : An International Journal & World Abstracting Service. Vol.31, N2-3
Микроэлектроника
Издательство: Pergamon Press, 1991 г.
ISBN отсутствует
Автор: Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability : An International Journal & World Abstracting Service. Vol.31, N2-3
Микроэлектроника
Издательство: Pergamon Press, 1991 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Периодическое издание
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника : an international journal & world abstracting service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc. : Pergamon Press. – Научно-технический журнал по микроэлектронике публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике. Статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники. Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем. – ISSN 0026-2714.
Выпуск
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника : An International Journal & World Abstracting Service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc. : Pergamon Press, 1991. – Vol.31, N2-3. – Научно-технический журнал по микроэлектронике, публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике, статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники.Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем.
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника : an international journal & world abstracting service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc. : Pergamon Press. – Научно-технический журнал по микроэлектронике публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике. Статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники. Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем. – ISSN 0026-2714.
Выпуск
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability = Микроэлектроника : An International Journal & World Abstracting Service / ed.-in-chief G.W.A. Dummer. – New York etc. : Pergamon Press, 1991. – Vol.31, N2-3. – Научно-технический журнал по микроэлектронике, публикует статьи по молекулярной и полупроводниковой электронике и электронной оптике, статьи по конструированию приборов и деталей микроэлектроники.Рассматриваются вопросы повышения надежности микроэлектронных схем.
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ЧЗ ЗИ | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability: an international journal & world abstracting service
Микроэлектроника
Pergamon Press, б.г.
ISBN отсутствует
Dummer, G.W.A.
Microelectronics and Reliability: an international journal & world abstracting service
Микроэлектроника
Pergamon Press, б.г.
ISBN отсутствует