Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Глудкин, О.П. - Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем
Глудкин, О.П. - Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем
Доступно
11 из 11
11 из 11
Книга
Автор: Глудкин, О.П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов]
Серия: Для студентов вузов
Издательство: Энергия, 1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Глудкин, О.П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов]
Серия: Для студентов вузов
Издательство: Энергия, 1980 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / О.П. Глудкин, В.Н. Черняев. – Москва : Энергия, 1980. – 360 с. : ил. – (Для студентов вузов). – URL: http:Libsrv24.library.bntu.byTextScanGludkin_ OPDoc1.pdf : 1.00.
621.396.6.049.77.001.4(075.8)
дисциплины = Компонент учреждения высшего образования : Модуль "Прикладные технологии" : Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники
общий = РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ИСПЫТАНИЯ
общий = МИКРОЭЛЕМЕНТЫ
621.3 Г55
Глудкин, О.П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов] / О.П. Глудкин, В.Н. Черняев. – Москва : Энергия, 1980. – 360 с. : ил. – (Для студентов вузов). – URL: http:Libsrv24.library.bntu.byTextScanGludkin_ OPDoc1.pdf : 1.00.
621.396.6.049.77.001.4(075.8)
дисциплины = Компонент учреждения высшего образования : Модуль "Прикладные технологии" : Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники
общий = РАДИОЭЛЕКТРОННАЯ АППАРАТУРА
общий = ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
общий = ИСПЫТАНИЯ
общий = МИКРОЭЛЕМЕНТЫ