Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Батавин, В.В. - Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Батавин, В.В. - Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур

Доступно
6 из 6
6 из 6
Книга
Автор: Батавин, В.В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Серия: Измерения в электронике
Издательство: Радио и связь, 1985 г.
ISBN отсутствует
Автор: Батавин, В.В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Серия: Измерения в электронике
Издательство: Радио и связь, 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
621.3 Б28
Батавин, В.В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В.В. Батавин, Ю.А. Концевой, Ю.В. Федорович. – Москва : Радио и связь, 1985. – 264 с. : ил. – (Измерения в электронике) : 1.10.
621.315.592:620.1
621.382.08
дисциплины = Государственный компонент : Модуль "Твердотельная электроника" : Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
дисциплины = Государственный компонент : Модуль "Технологии микросистемной техники" : Методы контроля материалов и компонентов интегральных схем, МЭМС и НЭМС
621.3 Б28
Батавин, В.В.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В.В. Батавин, Ю.А. Концевой, Ю.В. Федорович. – Москва : Радио и связь, 1985. – 264 с. : ил. – (Измерения в электронике) : 1.10.
621.315.592:620.1
621.382.08
дисциплины = Государственный компонент : Модуль "Твердотельная электроника" : Контроль параметров материалов и компонентов электронной техники
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
дисциплины = Государственный компонент : Модуль "Технологии микросистемной техники" : Методы контроля материалов и компонентов интегральных схем, МЭМС и НЭМС
Заказать
На полку