Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Вальков, В.М. - Анализ характеристик действующих систем
Вальков, В.М. - Анализ характеристик действующих систем
Книга
Автор: Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч.2: Анализ характеристик действующих систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Автор: Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч.2: Анализ характеристик действующих систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Многотомник
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – (Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) .
Книга
681 В16
Вальков, В.М.
Ч.2 : Анализ характеристик действующих систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.) / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. – 30 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып. 3(836)-81. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) . - .: 0.30.
681.325.5:621.382.049.771.14(048.8)
общий = АВТОМАТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ
общий = ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
общий = БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – (Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) .
Книга
681 В16
Вальков, В.М.
Ч.2 : Анализ характеристик действующих систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.) / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. – 30 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып. 3(836)-81. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) . - .: 0.30.
681.325.5:621.382.049.771.14(048.8)
общий = АВТОМАТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ
общий = ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
общий = БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОХОФ | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Многотомник
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует