Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Вальков, В.М. - Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
Вальков, В.М. - Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
Многотомник
Автор: Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
На полку
Многотомник
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – (Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) .
Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – (Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) .
Связанные описания:
Книга
Вальков, В.М.
Ч.2. : Анализ характеристик действующих систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Вальков, В.М.
Ч.2. : Анализ характеристик действующих систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Книга
Вальков, В.М.
Ч.1. : Методологические вопросы: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1978-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Вальков, В.М.
Ч.1. : Методологические вопросы: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1978-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует