Электронный каталог НБ БНТУ

Многотомник

Вальков, В.М.
Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – (Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) .
Книга
681 В16

Вальков, В.М.
Ч.1 : Методологические вопросы: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1978-1981 гг.) / В.М. Вальков. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. – 58 с.: ил., табл. – (Обзоры по электронной технике; вып.2(835). Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания) . - .: 0.60.

681.325.5:621.382.049.771.14(048.8)

общий = АВТОМАТИЧЕСКИЕ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ
общий = ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
общий = БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ