Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ларионов, Ю.В. - Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
Ларионов, Ю.В. - Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
Статья
Автор: Ларионов, Ю.В.
Квантовая электроника: Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ларионов, Ю.В.
Квантовая электроника: Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ларионов, Ю.В.
Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм / Ю.В. Ларионов, В.О. Соколов, В.Г. Плотниченко // Квантовая электроника / гл. ред. О.Н. Крохин; учредитель Российская академия наук, Физический институт им. П.Н. Лебедева, Российская академия наук, Институт общей физики, Московский инженерно-физический институт, Международный учебно-научный лазерный центр МГУ, НПО "Астрофизика", НИИ лазерной физики, Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт лазерной физики, НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха. – 2007. – Т.37 N6. – С.575-579.
621.372.82:621.383.8
общий = БД Техника
общий = ВОЛОКОННАЯ ОПТИКА
общий = КВАРЦЕВОЕ СТЕКЛО
общий = СВЕТОВОДЫ
Ларионов, Ю.В.
Дефекты фосфоросиликатного стекла, экспонированного излучением на длине волны 193 нм / Ю.В. Ларионов, В.О. Соколов, В.Г. Плотниченко // Квантовая электроника / гл. ред. О.Н. Крохин; учредитель Российская академия наук, Физический институт им. П.Н. Лебедева, Российская академия наук, Институт общей физики, Московский инженерно-физический институт, Международный учебно-научный лазерный центр МГУ, НПО "Астрофизика", НИИ лазерной физики, Российская академия наук, Сибирское отделение, Институт лазерной физики, НИИ "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха. – 2007. – Т.37 N6. – С.575-579.
621.372.82:621.383.8
общий = БД Техника
общий = ВОЛОКОННАЯ ОПТИКА
общий = КВАРЦЕВОЕ СТЕКЛО
общий = СВЕТОВОДЫ