Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Экз. чит. зала
Нормативный документ
Автор:
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Серия: Государственный стандарт СССР
Издательство: Издательство стандартов, 1983 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Серия: Государственный стандарт СССР
Издательство: Издательство стандартов, 1983 г.
ISBN отсутствует
На полку
Нормативный документ
МКС 31.080.10
ГОСТ 18986.24-83.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения. – Введ. 01.07.84 до 01.07.89. – Москва : Издательство стандартов, 1983. – 3 с. : черт. – (Государственный стандарт СССР). – Ограничение срока действия снято (ИУС. 1993. №5-6) : 0.03.
ББК МКС 31.080.10
ББК КГС Э29
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДИОДЫ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
общий = МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ
МКС 31.080.10
ГОСТ 18986.24-83.
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения. – Введ. 01.07.84 до 01.07.89. – Москва : Издательство стандартов, 1983. – 3 с. : черт. – (Государственный стандарт СССР). – Ограничение срока действия снято (ИУС. 1993. №5-6) : 0.03.
ББК МКС 31.080.10
ББК КГС Э29
общий = ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДИОДЫ
общий = ПАРАМЕТРЫ (физ., техн.)
общий = МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ
| Филиал | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|
| ОТНПА и ТП | 1 | - | 1 | Недоступно |