Электронный каталог -Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках- Absopac

Поиск :

Книга
Автор:
Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках
Серия: Обзоры по электронной технике
Издательство: ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует

Книга
53 М54

Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках / Ю.К. Крутоголов, И.А. Фомин, А.Г. Быковский, Л.В. Лебедева, С.С. Стрельченко. – Москва: ЦНИИ "Электроника", 1976. – 32 с.: ил. – (Обзоры по электронной технике; вып.5(380). Серия 6, Материалы) : 0.25.

537.311.322

общий = ПОЛУПРОВОДНИКИ
общий = МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

Филиал	Всего	Доступно для брони	Доступно для выдачи	Бронирование
ОХОФ	1	1	1	Заказать

Филиал

Всего

Доступно для брони

Доступно для выдачи

Бронирование

ОХОФ