Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Булярский, С.В. - Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия
Булярский, С.В. - Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия
Статья
Автор: Булярский, С.В.
Микроэлектроника: Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Булярский, С.В.
Микроэлектроника: Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Булярский, С.В.
Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия / С.В. Булярский, Н.С. Грушко, Д.В. Казаков // Микроэлектроника / гл. ред. К.А. Валиев; учредитель Российская академия наук, Российская академия наук, Отделение информационных технологий и вычислительных систем. – 2005. – T.34 N1. – С.43-50.
621.315.592
общий = БД Техника
общий = ПОЛУПРОВОДНИКИ
Булярский, С.В.
Дефектообразование при отжиге эпитаксиальных p-n-переходов на основе фосфида галлия / С.В. Булярский, Н.С. Грушко, Д.В. Казаков // Микроэлектроника / гл. ред. К.А. Валиев; учредитель Российская академия наук, Российская академия наук, Отделение информационных технологий и вычислительных систем. – 2005. – T.34 N1. – С.43-50.
621.315.592
общий = БД Техника
общий = ПОЛУПРОВОДНИКИ