Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
Печать списка
--> ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
Рубрика
- Название:
- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
Печать списка
Связанные описания:
Книга
[Вып.] 21. : Проблемы моделирования полупроводниковых структур и сложных схем на ЭВМ
ТПИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
[Вып.] 21. : Проблемы моделирования полупроводниковых структур и сложных схем на ЭВМ
ТПИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку 
Статья
Mishchenka, V.N.
Output Characteristics of Graphene Field Effect Transistors
Выходные характеристики графеновых полевых транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Mishchenka, V.N.
Output Characteristics of Graphene Field Effect Transistors
Выходные характеристики графеновых полевых транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Янковский, Ю.Н.
Взаимодействие редкоземельных элементов с основными легирующими и технологическими примесями в ст...: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук
[б. и.], 2006 г.
ISBN отсутствует
Янковский, Ю.Н.
Взаимодействие редкоземельных элементов с основными легирующими и технологическими примесями в ст...: автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук
[б. и.], 2006 г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Сычик, Василий Андреевич
Воздействие магнитных полей на полупроводниковые приборные структуры
б.г.
ISBN отсутствует
Сычик, Василий Андреевич
Воздействие магнитных полей на полупроводниковые приборные структуры
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Выполнение комлексных исследований приборных структур при многофактурных физических воздействиях ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 14-77
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
Выполнение комлексных исследований приборных структур при многофактурных физических воздействиях ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 14-77
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
Статья
Сенько, С.Ф.
Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Control of local stress in semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Сенько, С.Ф.
Измерение локальных напряжений в полупроводниковых кремниевых структурах
Control of local stress in semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Адамчук, Д.В.
Импедансная спектроскопия поликристаллических пленок диоксида олова
Impedance spectroscopy of polycrystalline tin dioxide films
б.г.
ISBN отсутствует
Адамчук, Д.В.
Импедансная спектроскопия поликристаллических пленок диоксида олова
Impedance spectroscopy of polycrystalline tin dioxide films
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Исследование переходных процессов в полупроводниковых структурах: пособие для студентов вузов, обучающихся по специальности 1-31 04 01 "Физика (по направлениям)"
Издательский центр БГУ, 2009 г.
ISBN 978-985-518-248-2
Исследование переходных процессов в полупроводниковых структурах: пособие для студентов вузов, обучающихся по специальности 1-31 04 01 "Физика (по направлениям)"
Издательский центр БГУ, 2009 г.
ISBN 978-985-518-248-2
Книга (аналит. описание)
Францкевич, Наталья Викторовна
Исследование поверхностных структур, образующихся на поверхности пластин монокристаллического кре...
б.г.
ISBN отсутствует
Францкевич, Наталья Викторовна
Исследование поверхностных структур, образующихся на поверхности пластин монокристаллического кре...
б.г.
ISBN отсутствует
Отчет
Исследование физических механизмов модуляции фотоответа поверхностно-барьерных структур при комби...: отчет о НИР (заключительный) : Ф99-203
[б. и.], 2002 г.
ISBN отсутствует
Исследование физических механизмов модуляции фотоответа поверхностно-барьерных структур при комби...: отчет о НИР (заключительный) : Ф99-203
[б. и.], 2002 г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Сопряков, Виталий Иванович
Метод модуляционного дифференцирования вольт-амперных характеристик в диагностике качества полупр...
б.г.
ISBN отсутствует
Сопряков, Виталий Иванович
Метод модуляционного дифференцирования вольт-амперных характеристик в диагностике качества полупр...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Курцин, В.М.
Методы и аппаратура для пооперационного технологического контроля электрофизических параметров по...
ISBN отсутствует
Курцин, В.М.
Методы и аппаратура для пооперационного технологического контроля электрофизических параметров по...
Серия: Обзорная информация
Информэлектро, 1983 г.ISBN отсутствует
Книга
Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1986 г.)
ISBN отсутствует
Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1986 г.)
Серия: Тезисы докладов конференций
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.ISBN отсутствует
Книга
Литвинов, Ю.М.
Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1975 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Литвинов, Ю.М.
Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1975 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Многослойные полупроводниковые структуры и сверхрешетки: сборник научных трудов
ИПФ, 1984 г.
ISBN отсутствует
Многослойные полупроводниковые структуры и сверхрешетки: сборник научных трудов
ИПФ, 1984 г.
ISBN отсутствует
Статья
Сенько, С.Ф.
Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Estimation of topographic defects dimensions of semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Сенько, С.Ф.
Оценка размеров топографических дефектов полупроводниковых кремниевых структур
Estimation of topographic defects dimensions of semiconductor silicon structures
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Кисель, Виктор Эдвардович
Пассивные затворы для твердотельных лазеров на основе наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Кисель, Виктор Эдвардович
Пассивные затворы для твердотельных лазеров на основе наноструктур
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Полупроводниковые структуры и системы контроля технологических процессов: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1982 г.
ISBN отсутствует
Полупроводниковые структуры и системы контроля технологических процессов: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1982 г.
ISBN отсутствует
Книга
Полупроводниковые структуры, радиоэлектронные устройства и системы контроля: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1989 г.
ISBN 5-376-00070-2
Полупроводниковые структуры, радиоэлектронные устройства и системы контроля: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1989 г.
ISBN 5-376-00070-2
Книга
Калябина, И.А.
Применение импульсных режимов отжига в технологии полупроводниковых структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977-1980 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Калябина, И.А.
Применение импульсных режимов отжига в технологии полупроводниковых структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977-1980 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Отчет
Разработать и изготовить экспериментальный образец измерительной системы экспрессного контроля по...: отчет о НИР (заключительный) : Х/Д 1428
[б. и.], 2008 г.
ISBN отсутствует
Разработать и изготовить экспериментальный образец измерительной системы экспрессного контроля по...: отчет о НИР (заключительный) : Х/Д 1428
[б. и.], 2008 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработать теоретические основы создания первичных преобразователей информационно-измерительной ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 06-297
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
Разработать теоретические основы создания первичных преобразователей информационно-измерительной ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 06-297
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработать физические принципы многофункциональных фотодетекторов на основе двухбарьерных полупр...: отчет о НИР (заключительный) : Т08М-086
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
Разработать физические принципы многофункциональных фотодетекторов на основе двухбарьерных полупр...: отчет о НИР (заключительный) : Т08М-086
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует