Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Печать списка
--> ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Рубрика
- Название:
- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Печать списка
Связанные описания:
На полку
Книга
Введение в нанотехнологию: учебник для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 — "Конструирование и технология электронных средств"
Лань, 2022 г.
ISBN 9785811413188
Введение в нанотехнологию: учебник для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 — "Конструирование и технология электронных средств"
Лань, 2022 г.
ISBN 9785811413188
Заказать 
Книга
Неволин, В.К.
Зондовые нанотехнологии в электронике
ISBN 5-948360-54-7
Неволин, В.К.
Зондовые нанотехнологии в электронике
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2005 г.ISBN 5-948360-54-7
Электронный ресурс
Зондовый ионизационный электрометр для устройств визуализации потенциального рельефа прецизионных...: отчет о НИР (заключительный) : Т10-192
[б. и.], 2012 г.
ISBN отсутствует
Зондовый ионизационный электрометр для устройств визуализации потенциального рельефа прецизионных...: отчет о НИР (заключительный) : Т10-192
[б. и.], 2012 г.
ISBN отсутствует
Статья
Изменение структуры поверхности гальванических покрытий при воздействии холодной плазмы воздуха
Change of the structure of the surface of galvanic coatings under exposure to cold air plasma
б.г.
ISBN отсутствует
Изменение структуры поверхности гальванических покрытий при воздействии холодной плазмы воздуха
Change of the structure of the surface of galvanic coatings under exposure to cold air plasma
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Исследование и разработка методов и средств зондовой электрометрии для визуализации прецизионных ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 11-97
[б. и.], 2013 г.
ISBN отсутствует
Исследование и разработка методов и средств зондовой электрометрии для визуализации прецизионных ...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 11-97
[б. и.], 2013 г.
ISBN отсутствует
Статья
Гуляев, П.В
Коррекция влияния помех на результаты зондовой микроскопии вытянутых объектов с использованием пр...
Correction of Disturbances Influence on Results of Elongated Objects's Probe Microscopy Using Predictive Relief Estimates
б.г.
ISBN отсутствует
Гуляев, П.В
Коррекция влияния помех на результаты зондовой микроскопии вытянутых объектов с использованием пр...
Correction of Disturbances Influence on Results of Elongated Objects's Probe Microscopy Using Predictive Relief Estimates
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Дрозд, Е.
Новый метод биомедицинских исследований: [зондовая микроскопия]
б.г.
ISBN отсутствует
Дрозд, Е.
Новый метод биомедицинских исследований: [зондовая микроскопия]
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Афонин, С.М.
Параметрические структурные схемы многослойного пьезоактюатора нано- и микроперемещений при продо...
б.г.
ISBN отсутствует
Афонин, С.М.
Параметрические структурные схемы многослойного пьезоактюатора нано- и микроперемещений при продо...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Мусалимов, В.М.
Перечислительная классификация сигналов сканирующей зондовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Мусалимов, В.М.
Перечислительная классификация сигналов сканирующей зондовой микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработка и исследование композиционного материала для АСМ-инденторов на основе единичных частиц...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 10-25
[б. и.], 2012 г.
ISBN отсутствует
Разработка и исследование композиционного материала для АСМ-инденторов на основе единичных частиц...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 10-25
[б. и.], 2012 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработка принципов зондовой электрометрической диагностики дефектов прецизионных поверхностей м...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-73
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Разработка принципов зондовой электрометрической диагностики дефектов прецизионных поверхностей м...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-73
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработка экспрессных методов контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-98
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Разработка экспрессных методов контроля наноразмерных дефектов макроскопических поверхностей: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-98
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
Книга
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9