Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Книги в рубрике:

Рубрики
--> КРЕМНИЕВЫЕ ПЛАСТИНЫ

Рубрика

Название:
 
КРЕМНИЕВЫЕ ПЛАСТИНЫ  

Печать списка

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | вперед >>
Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Статья
Lapitskaya, V.A.
Influence of Temperature from 20 to 100 °C on Specific Surface Energy and Fracture Toughness of S...
Влияние температуры от 20 до 100 °С на удельную поверхностную энергию и вязкость разрушения пластин кремния
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Si...
Статья

Spectral Ellipsometry as a Method of Investigation of Influence of Rapid Thermal Processing of Si...
Спектральная эллипсометрия как метод изучения влияния быстрой термообработки кремниевых пластин на их оптические характеристики
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, по спектрам оптического отражения
Статья

Анализ поверхности кремния, имплантированного ионами серебра, по спектрам оптического отражения
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Быстрые термообработки в технологии СБИС
Доступно
 1 из 1
Книга
Пилипенко, В.А.
Быстрые термообработки в технологии СБИС
Издательство БГУ, 2004 г.
ISBN 985-476-251-3


Заказать Заказать

На полку На полку

Вакуумно-технологическое оборудования для напыления металлов: назначение, особенности, управление
Книга (аналит. описание)
Сапожникова, К.С.
Вакуумно-технологическое оборудования для напыления металлов: назначение, особенности, управление
Vacuum technological equipment for metal spraying. Purpose, features, management
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Влияние низкоэнергетичной ионно-плазменной обработки водородом, гелием, аргоном на свойства пласт...
Экз. чит. зала
Автореферат
Королик, О.В.
Влияние низкоэнергетичной ионно-плазменной обработки водородом, гелием, аргоном на свойства пласт...: автореферат диссертации ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.10
2010 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Влияние радиусов сопряжений элементов мембранных МЭМС-систем на собственные колебания
Статья
Авсиевич, Андрей Михайлович
Влияние радиусов сопряжений элементов мембранных МЭМС-систем на собственные колебания
The effect of the coupling radii of the elements of membrane MEMS systems on their own oscillations
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

.
Доступно
 1 из 1
Книга

Вып.8-9(92-93). : .
1980 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Генерация активных центров в результате лазерного скрайбирующего воздействия
Электронный ресурс (аналит. описание)
Новик, Андрей Владимирович
Генерация активных центров в результате лазерного скрайбирующего воздействия
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Дефектообразование на поверхности пластин монокристаллического кремния, имплантированных гелием и...
Электронный ресурс (аналит. описание)
Францкевич, Наталья Викторовна
Дефектообразование на поверхности пластин монокристаллического кремния, имплантированных гелием и...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Статья
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Исследование поверхностных структур, образующихся на поверхности пластин монокристаллического кре...
Книга (аналит. описание)
Францкевич, Наталья Викторовна
Исследование поверхностных структур, образующихся на поверхности пластин монокристаллического кре...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Исследование физико-химических процессов при полировании пластин монокристаллов кремния в магнитн...
Экз. чит. зала
Отчет

Исследование физико-химических процессов при полировании пластин монокристаллов кремния в магнитн...: отчет о НИР (заключительный) : Х/Д Т05М-110
[б. и.], 2007 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
Статья
Воробей, Роман Иванович
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Магнитно-абразивная обработка - перспективный метод полирования кремниевых пластин
Книга (аналит. описание)
Хомич, Н.С.
Магнитно-абразивная обработка - перспективный метод полирования кремниевых пластин
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Метод контроля геометрической формы кремниевых подложек интегральных микросхем
Книга (аналит. описание)
Лосякина, Ю.В.
Метод контроля геометрической формы кремниевых подложек интегральных микросхем: [рассматривается измерение кремниевых пластин интегральных микросхем емкостным, индуктивным и фотоинжекционным методами]
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...
Доступно
 1 из 1
Книга
Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы оперативного контроля физико-механических свойств полупроводниковых материалов
Доступно
 1 из 1
Книга
Попков, В.И.
Методы оперативного контроля физико-механических свойств полупроводниковых материалов: [монография]
Издательство БГТУ, 2008 г.
ISBN 5-89838-399-9


Заказать Заказать

На полку На полку

Моделирование кинематики процесса магнитно-абразивного полирования кремниевых пластин
Статья
Хомич, Н.С.
Моделирование кинематики процесса магнитно-абразивного полирования кремниевых пластин
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Модификация поверхности пластин кремния в результате обработки в DC плазме водорода: исследование...
Книга (аналит. описание)
Францкевич, Анатолий Викторович
Модификация поверхности пластин кремния в результате обработки в DC плазме водорода: исследование...
Surface modification of silicon wafers by hydrogen DC plasma treatment: a raman study
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Нанотрубки в обьеме и конические наноструктуры на поверхности кремниевых пластин: разработка техн...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Нанотрубки в обьеме и конические наноструктуры на поверхности кремниевых пластин: разработка техн...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-96
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Оптимизация автоматизированного топологического проектирования ИЭТ, интегрированных на целой плас...
Экз. чит. зала
Автореферат
Лапшина, М.Л.
Оптимизация автоматизированного топологического проектирования ИЭТ, интегрированных на целой плас...: автореферат диссертации ... канд. техн. наук : 05.13.12
1994 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Оптимизация состава полиабразивной суспензии на основе ультрадисперсного диоксида кремния (SiO2-T...
Книга (аналит. описание)
Якубовская, Светлана Владимировна
Оптимизация состава полиабразивной суспензии на основе ультрадисперсного диоксида кремния (SiO2-T...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнии
Статья

Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнии
Reflective Absorption IR Fourier-Spectroscopy of Photoresistive Films on Silicon
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Прочностные свойства пленок фоторезиста AZ nLOF 5510
Книга (аналит. описание)

Прочностные свойства пленок фоторезиста AZ nLOF 5510
Strength properties of AZ nLOF 5510 photoresist films
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Разработать технологический процесс полирования полупроводниковых материалов алмазосодержащими су...
Доступно
 1 из 1
Электронный ресурс

Разработать технологический процесс полирования полупроводниковых материалов алмазосодержащими су...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 3523/3.64
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку

Разработка принципа формирования и методов исследования нанотрубок в кремнии за 2011-2013 г. [Эле...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработка принципа формирования и методов исследования нанотрубок в кремнии за 2011-2013 г. [Эле...: отчет о НИР (заключительный) : ГБ 11-68
[б. и.], 2013 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Статья
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Спектры поглощения фоторезистов для обратной литографии
Книга (аналит. описание)

Спектры поглощения фоторезистов для обратной литографии
Absorption spectra of photoresists for reverse lithography
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Статья

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121