Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Печать списка
--> МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Рубрика
- Название:
- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Гонка "проектных норм": секреты выживания: [развитие микроэлектроники в Беларуси]
б.г.
ISBN отсутствует
Гонка "проектных норм": секреты выживания: [развитие микроэлектроники в Беларуси]
б.г.
ISBN отсутствует
На полку 
Книга
Датчики на основе технологии микроэлектроники: материалы семинара
МДНТП, 1983 г.
ISBN отсутствует
Датчики на основе технологии микроэлектроники: материалы семинара
МДНТП, 1983 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
Книга
Горлов, М.И.
Диагностика в современной микроэлектронике
Интегралполиграф, 2011 г.
ISBN 978-985-684-534-8
Горлов, М.И.
Диагностика в современной микроэлектронике
Интегралполиграф, 2011 г.
ISBN 978-985-684-534-8
Книга
Воронцов, Е.В.
Динамика производства интегральных схем
Белорусская наука, 2002 г.
ISBN 985-08-0197-2
Воронцов, Е.В.
Динамика производства интегральных схем
Белорусская наука, 2002 г.
ISBN 985-08-0197-2
Книга
Корзо, В.Ф.
Диэлектрические пленки в микроэлектронике
ISBN отсутствует
Корзо, В.Ф.
Диэлектрические пленки в микроэлектронике
Серия: Электронное материаловедение
Энергия, 1977 г.ISBN отсутствует
Книга
Урбанович, П.П.
Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти
Навука і тэхніка, 1995 г.
ISBN 5-343-01188-8
Урбанович, П.П.
Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти
Навука і тэхніка, 1995 г.
ISBN 5-343-01188-8
Статья
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Измерения и контроль в микроэлектронике: [учебное пособие для специальностей электронной техники вузов]
Высшая школа, 1984 г.
ISBN отсутствует
Измерения и контроль в микроэлектронике: [учебное пособие для специальностей электронной техники вузов]
Высшая школа, 1984 г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Щербакова, Елена Николаевна
Импульсная фотонная обработка для формирования силицидов платины для сверхбольших интегральных схем
б.г.
ISBN отсутствует
Щербакова, Елена Николаевна
Импульсная фотонная обработка для формирования силицидов платины для сверхбольших интегральных схем
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Иванов-Есипович, Н.К.
Инженерные основы пленочной микроэлектроники
Энергия, Ленинградское отделение, 1968 г.
ISBN отсутствует
Иванов-Есипович, Н.К.
Инженерные основы пленочной микроэлектроники
Энергия, Ленинградское отделение, 1968 г.
ISBN отсутствует
Книга
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных приборах
Энергия, Ленинградское отделение, 1974 г.
ISBN отсутствует
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных приборах
Энергия, Ленинградское отделение, 1974 г.
ISBN отсутствует
Книга
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных устройствах
Энергия, Ленинградское отделение, 1980 г.
ISBN отсутствует
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных устройствах
Энергия, Ленинградское отделение, 1980 г.
ISBN отсутствует
Книга
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных устройствах
Энергоатомиздат, Ленинградское отделение, 1988 г.
ISBN 5-283-04375-4
Гутников, В.С.
Интегральная электроника в измерительных устройствах
Энергоатомиздат, Ленинградское отделение, 1988 г.
ISBN 5-283-04375-4
Книга
Интегрированные технологии микро- и наноструктурированных слоев
Бестпринт, 2013 г.
ISBN 978-985-687-368-6
Интегрированные технологии микро- и наноструктурированных слоев
Бестпринт, 2013 г.
ISBN 978-985-687-368-6
Книга
Грищенко, А.Ф.
Ионное легирование в микроэлектронике: [учебное пособие для средних профессионально-технических училищ]
Высшая школа, 1985 г.
ISBN отсутствует
Грищенко, А.Ф.
Ионное легирование в микроэлектронике: [учебное пособие для средних профессионально-технических училищ]
Высшая школа, 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
Янковский, Ю.Н.
Ионно-радиационные методы модификации полупроводниковых материалов: пособие для вузов по специальности 1-31 04 01 "Физика (по напр.)"
Издательство БГУ, 2014 г.
ISBN 978-985-566-101-7
Янковский, Ю.Н.
Ионно-радиационные методы модификации полупроводниковых материалов: пособие для вузов по специальности 1-31 04 01 "Физика (по напр.)"
Издательство БГУ, 2014 г.
ISBN 978-985-566-101-7
Книга
Саноян, А.Г.
Использование органических соединений в микроэлектронике в качестве конструкционных материалов
Институт "Электроника", 1970 г.
ISBN отсутствует
Саноян, А.Г.
Использование органических соединений в микроэлектронике в качестве конструкционных материалов
Институт "Электроника", 1970 г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Исследование и моделирование МЭМС конденсаторов и массивов УТН: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2020 г.
ISBN отсутствует
Исследование и моделирование МЭМС конденсаторов и массивов УТН: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2020 г.
ISBN отсутствует
Книга
Исследование и применение сплавов тугоплавких металлов: (рения, вольфрама, молибдена) : [сборник статей]
Наука, 1983 г.
ISBN отсутствует
Исследование и применение сплавов тугоплавких металлов: (рения, вольфрама, молибдена) : [сборник статей]
Наука, 1983 г.
ISBN отсутствует
Книга
Исследования новых микроэлектронных приборов и устройств: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1987 г.
ISBN отсутствует
Исследования новых микроэлектронных приборов и устройств: вопросы электроники : межвузовский сборник
Штиинца, 1987 г.
ISBN отсутствует
Статья
Плебанович, В.И.
Качество - ключ к успеху!: [УП "Завод полупроводниковых приборов", НПО "Интеграл"]
б.г.
ISBN отсутствует
Плебанович, В.И.
Качество - ключ к успеху!: [УП "Завод полупроводниковых приборов", НПО "Интеграл"]
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование
ISBN 5-02-033950-4
Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование
Серия: Труды ФТИАН
Наука, 2005 г.ISBN 5-02-033950-4
Книга
Кн.1. : Конструкционные и функциональные материалы в современной технике, методы их получения. Материалы ...
2011 г.
ISBN 978-985-644-124-3
Кн.1. : Конструкционные и функциональные материалы в современной технике, методы их получения. Материалы ...
2011 г.
ISBN 978-985-644-124-3