Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Книги в рубрике:

Рубрики
--> Компонент учреждения высшего образования
----> Модуль "Прикладные технологии"
------> Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники

Рубрика

Название:
 
Физические основы надежности и испытание изделий электронной техники  

Печать списка

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС
Доступно
 6 из 6
Книга
Глудкин, О.П.
Методы и устройства испытаний РЭС И ЭВС: [учебник для вузов по специальности "Конструирование и технология РЭС", "Конструирование и технология ЭВС"]
Высшая школа, 1991 г.
ISBN 5-06-001891-1


Заказать Заказать

На полку На полку

Микроэлектроника
Доступно
 20 из 21
Книга
Ефимов, И.Е.
Микроэлектроника: физические и технологические основы, надежность, [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов]
Серия: Учебное пособие для вузов
Высшая школа, 1986 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Надежность автоматизированных информационных систем
Доступно
 1 из 1
Книга
Фатуев, В.А.
Надежность автоматизированных информационных систем: учебное пособие
ТулГУ, 1998 г.
ISBN 5-7679-0170-8


Заказать Заказать

На полку На полку

Надежность и диагностика технологических систем
Доступно
 2 из 2
Книга
Синопальников, В.А.
Надежность и диагностика технологических систем: [учебник для вузов по специальности "Металлообрабатывающие станки и комплексы" направления "Конструкторско-технологическое обеспечение
Высшая школа, 2005 г.
ISBN 5-06-004422-X


Заказать Заказать

На полку На полку

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Доступно
 7 из 8
Книга
Чернышев, А.А.
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Радио и связь, 1988 г.
ISBN 5-256-00042-X


Заказать Заказать

На полку На полку

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем
Доступно
 11 из 11
Книга
Глудкин, О.П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: [учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов]
Серия: Для студентов вузов
Энергия, 1980 г.
ISBN отсутствует

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121