Электронный каталог НБ БНТУ

rus

Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога
ФИЛИАЛЫ
КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник издательств

К списку издательств

ЦНИИ "Электроника", Москва

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

<< назад | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | 31 | вперед >>

Методы измерения параметров волоконных световодов

Доступно
1 из 1

Книга
Тучин, В.В.
Методы измерения параметров волоконных световодов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980...1986 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1987 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием

Доступно
1 из 1

Книга
Будник, В.В.
Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок

Доступно
1 из 1

Книга

Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1974-1984 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы исследований абстрактных технологических процессов

Доступно
1 из 1

Книга
Лазутин, Ю.Д.
Методы исследований абстрактных технологических процессов

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов

Доступно
1 из 1

Книга

Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов: (межведомственный семинар, июль 1975 г.)

Серия: Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы контроля и диагностики БИС ОЗУ

Доступно
1 из 1

Книга
Колчин, Г.С.
Методы контроля и диагностики БИС ОЗУ: (по данным отечественной и зарубежной печати 1977-1985 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы контроля макродефектов диэлектрических покрытий

Доступно
1 из 1

Книга

Методы контроля макродефектов диэлектрических покрытий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1982 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой

Доступно
1 из 1

Книга

Методы контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...

Доступно
1 из 1

Книга
Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы математической теории эксперимента и ЭВМ в задачах разработки материалов

Доступно
1 из 1

Книга

Методы математической теории эксперимента и ЭВМ в задачах разработки материалов: (материалы семинара, март 1977 г.)

Серия: Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах

Доступно
1 из 1

Книга
Литвинов, Ю.М.
Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1975 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы оценки физико-химических свойств ферритовых порошкообразных материалов

Доступно
1 из 1

Книга
Арон, П.М.
Методы оценки физико-химических свойств ферритовых порошкообразных материалов

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы получения количественной информации в электронной эмиссионной микроскопии

Доступно
1 из 1

Книга
Гурков, Ю.В.
Методы получения количественной информации в электронной эмиссионной микроскопии: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960-1975 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы разработки и конструктивные особенности электродных систем современных газовых лазеров

Доступно
1 из 1

Книга
Семенова, В.Б.
Методы разработки и конструктивные особенности электродных систем современных газовых лазеров: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962-1982 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы расчета систем накачки твердотельных лазеров

Доступно
1 из 1

Книга

Методы расчета систем накачки твердотельных лазеров

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы снижения вторичной электронной эмиссии с электродов СВЧ приборов

Доступно
1 из 1

Книга
Бабанов, Ж.Н.
Методы снижения вторичной электронной эмиссии с электродов СВЧ приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1985 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы создания транзисторов Р-П-Р и П-Р-П типов на одном кристалле

Доступно
1 из 1

Книга
Диковский, В.И.
Методы создания транзисторов Р-П-Р и П-Р-П типов на одном кристалле

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1972 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы составления расписаний и математические модели многопроцессорных систем

Доступно
1 из 1

Книга
Макаревич, О.Б.
Методы составления расписаний и математические модели многопроцессорных систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1963 - 1979 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы стабилизации мощности излучения непрерывных газоразрядных лазеров

Доступно
1 из 1

Книга
Демкин, В.Н.
Методы стабилизации мощности излучения непрерывных газоразрядных лазеров: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1968-1985 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Методы экспериментального исследования структуры электронных пучков приборов О- и М- типов

Доступно
1 из 1

Книга

Методы экспериментального исследования структуры электронных пучков приборов О- и М- типов

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1973 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...

Доступно
1 из 1

Книга
Глудкин, О.П.
Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1977 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов

Доступно
1 из 1

Книга

Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1982 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизмы основных видов отказов МДП-транзисторов

Доступно
1 из 1

Книга
Переведенцев, А.В.
Механизмы основных видов отказов МДП-транзисторов

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов

Доступно
1 из 1

Книга
Нечаев, А.М.
Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов: (реферативно-аналитический обзор)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия

Доступно
1 из 1

Книга

Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия: (реферативно-аналитический обзор)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механизмы пробоя транзисторов на арсениде галлия

Доступно
1 из 1

Книга
Нечаев, А.М.
Механизмы пробоя транзисторов на арсениде галлия: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980-1984 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механические свойства внутреннеокисленных сплавов

Доступно
1 из 1

Книга
Марченко, В.Н.
Механические свойства внутреннеокисленных сплавов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1940-1978 гг.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Механические системы вакуумного технологического оборудования для производства изделий квантовой ...

Многотомник
Василенко, Н.В.
Механические системы вакуумного технологического оборудования для производства изделий квантовой ...: (в 3 ч.)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует

На полку

Микроинтерфейсы и системы сбора-распределения данных

Многотомник
Малинин, В.В.
Микроинтерфейсы и системы сбора-распределения данных: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1975-1980 годы)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует

На полку

Микросварочные инструменты в производстве полупроводниковых приборов

Доступно
1 из 1

Книга
Кулявцев, С.В.
Микросварочные инструменты в производстве полупроводниковых приборов: (реферативно-аналитический обзор)

Серия: Обзоры по электронной технике

ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Серии: