Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник издательств

К списку издательств

ЦНИИ "Электроника", Москва

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
<< назад | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 | 31 | вперед >>
Методы и средства производственного контроля параметров МПФС из современных сверхвысококоэрцитивн...
Доступно
 1 из 1
Книга
Шабанов, Е.М.
Методы и средства производственного контроля параметров МПФС из современных сверхвысококоэрцитивн...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1982 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы измерения вольтамперных характеристик сильными СВЧ полями
Доступно
 1 из 1
Книга
Даргис, А.Ю.
Методы измерения вольтамперных характеристик сильными СВЧ полями: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1951-1981 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы измерения параметров волоконных световодов
Доступно
 1 из 1
Книга
Тучин, В.В.
Методы измерения параметров волоконных световодов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980...1986 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1987 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием
Доступно
 1 из 1
Книга
Будник, В.В.
Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1974-1984 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы исследований абстрактных технологических процессов
Доступно
 1 из 1
Книга
Лазутин, Ю.Д.
Методы исследований абстрактных технологических процессов
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов: (межведомственный семинар, июль 1975 г.)
Серия: Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы контроля и диагностики БИС ОЗУ
Доступно
 1 из 1
Книга
Колчин, Г.С.
Методы контроля и диагностики БИС ОЗУ: (по данным отечественной и зарубежной печати 1977-1985 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы контроля макродефектов диэлектрических покрытий
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы контроля макродефектов диэлектрических покрытий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1982 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы контроля полупроводниковых запоминающих устройств с произвольной выборкой
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...
Доступно
 1 из 1
Книга
Васильева, И.А.
Методы контроля технологических процессов очистки кремниевых пластин и нанесения слоев при произв...: (по материалам отечественной и зарубежной печати за 1972-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы математической теории эксперимента и ЭВМ в задачах разработки материалов
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы математической теории эксперимента и ЭВМ в задачах разработки материалов: (материалы семинара, март 1977 г.)
Серия: Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах
Доступно
 1 из 1
Книга
Литвинов, Ю.М.
Методы наблюдения и контроля дефектов в полупроводниковых материалах и структурах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1975 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы оценки физико-химических свойств ферритовых порошкообразных материалов
Доступно
 1 из 1
Книга
Арон, П.М.
Методы оценки физико-химических свойств ферритовых порошкообразных материалов
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы получения количественной информации в электронной эмиссионной микроскопии
Доступно
 1 из 1
Книга
Гурков, Ю.В.
Методы получения количественной информации в электронной эмиссионной микроскопии: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960-1975 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы разработки и конструктивные особенности электродных систем современных газовых лазеров
Доступно
 1 из 1
Книга
Семенова, В.Б.
Методы разработки и конструктивные особенности электродных систем современных газовых лазеров: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962-1982 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы расчета систем накачки твердотельных лазеров
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы расчета систем накачки твердотельных лазеров
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы снижения вторичной электронной эмиссии с электродов СВЧ приборов
Доступно
 1 из 1
Книга
Бабанов, Ж.Н.
Методы снижения вторичной электронной эмиссии с электродов СВЧ приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958-1985 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы создания транзисторов Р-П-Р и П-Р-П типов на одном кристалле
Доступно
 1 из 1
Книга
Диковский, В.И.
Методы создания транзисторов Р-П-Р и П-Р-П типов на одном кристалле
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1972 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы составления расписаний и математические модели многопроцессорных систем
Доступно
 1 из 1
Книга
Макаревич, О.Б.
Методы составления расписаний и математические модели многопроцессорных систем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1963 - 1979 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы стабилизации мощности излучения непрерывных газоразрядных лазеров
Доступно
 1 из 1
Книга
Демкин, В.Н.
Методы стабилизации мощности излучения непрерывных газоразрядных лазеров: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1968-1985 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы экспериментального исследования структуры электронных пучков приборов О- и М- типов
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы экспериментального исследования структуры электронных пучков приборов О- и М- типов
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1973 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...
Доступно
 1 из 1
Книга
Глудкин, О.П.
Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем, обусловленные влиянием кли...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1977 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов
Доступно
 1 из 1
Книга

Механизмы естественного старения и вынужденной деградации полупроводниковых приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1982 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизмы основных видов отказов МДП-транзисторов
Доступно
 1 из 1
Книга
Переведенцев, А.В.
Механизмы основных видов отказов МДП-транзисторов
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов
Доступно
 1 из 1
Книга
Нечаев, А.М.
Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов: (реферативно-аналитический обзор)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия
Доступно
 1 из 1
Книга

Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия: (реферативно-аналитический обзор)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механизмы пробоя транзисторов на арсениде галлия
Доступно
 1 из 1
Книга
Нечаев, А.М.
Механизмы пробоя транзисторов на арсениде галлия: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980-1984 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Механические свойства внутреннеокисленных сплавов
Доступно
 1 из 1
Книга
Марченко, В.Н.
Механические свойства внутреннеокисленных сплавов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1940-1978 гг.)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Серии:

  • Обзоры по электронной технике
  • Тезисы докладов конференций
  • Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике
  • Труды конференции по электронной технике
  • Методические материалы
  • Тезисы докладов и рекомендации конференций, совещаний и семинаров
  • Электронная техника
  • Тематические указатели литературы
  • Серия "Технология, организация производства и оборудование"
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.121