Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник издательств
К списку издательств
ЦНИИ "Электроника", Москва
Сортировать по: заглавию
Связанные описания:
Книга
Матюхина, В.М.
Матричные фотоэлектрические преобразователи: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1966-1976 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует
Матюхина, В.М.
Матричные фотоэлектрические преобразователи: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1966-1976 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1978 г.
ISBN отсутствует
Книга
Машинное проектирование интегральных полупроводниковых схем
ЦНИИ "Электроника", 1972 г.
ISBN отсутствует
Машинное проектирование интегральных полупроводниковых схем
ЦНИИ "Электроника", 1972 г.
ISBN отсутствует
Книга
Воробьев, Н.Н.
Машинное проектирование полупроводниковых приборов и интегральных схем
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Воробьев, Н.Н.
Машинное проектирование полупроводниковых приборов и интегральных схем
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Книга
Арский, В.Н.
МДП интегральные схемы: методы сборки и герметизации: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1970-1980 годы)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Арский, В.Н.
МДП интегральные схемы: методы сборки и герметизации: (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1970-1980 годы)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Книга
Мадоян, С.Г.
Металлические контакты к фосфиду галлия: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1974 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Мадоян, С.Г.
Металлические контакты к фосфиду галлия: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1974 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Книга
Скрылева, В.М.
Металлопористые катоды. Состояние теории и эксперимента
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Скрылева, В.М.
Металлопористые катоды. Состояние теории и эксперимента
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Бокарева, И.В.
Металлы и сплавы для корпусов интегральных схем и полупроводниковых приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1974 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Бокарева, И.В.
Металлы и сплавы для корпусов интегральных схем и полупроводниковых приборов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964-1974 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Рубцов, А.Е.
Метод жидких кристаллов в контроле интегральных схем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1985 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Рубцов, А.Е.
Метод жидких кристаллов в контроле интегральных схем: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1985 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Книга
Вальдман, Р.В.
Методика краткосрочного прогнозирования-программирования классов электронной техники на основе ин...
ISBN отсутствует
Вальдман, Р.В.
Методика краткосрочного прогнозирования-программирования классов электронной техники на основе ин...
Серия: Методические материалы
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.ISBN отсутствует
Книга
Немирова, Н.В.
Методы "холодных" измерений некоторых параметров СВЧ устройств: [указатель]
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Немирова, Н.В.
Методы "холодных" измерений некоторых параметров СВЧ устройств: [указатель]
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Ильюшенко, Ю.М.
Методы автоматического контроля динамических параметров цифровых интегральных схем: аналитический обзор по материалам отечественной и зарубежной литературы
ЦНИИ "Электроника", 1971 г.
ISBN отсутствует
Ильюшенко, Ю.М.
Методы автоматического контроля динамических параметров цифровых интегральных схем: аналитический обзор по материалам отечественной и зарубежной литературы
ЦНИИ "Электроника", 1971 г.
ISBN отсутствует
Книга
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Овчаренко, В.И.
Методы анализа качества микросхем при их производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1982 г.
ISBN отсутствует
Книга
Нестеренко, С.А.
Методы внутрисхемной эмуляции при отладке микропроцессорных систем: (по материалам зарубежной печати за 1975-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Нестеренко, С.А.
Методы внутрисхемной эмуляции при отладке микропроцессорных систем: (по материалам зарубежной печати за 1975-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1981 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы выбора микропроцессоров для использования в микропроцессорных системах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Методы выбора микропроцессоров для использования в микропроцессорных системах: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы и аппаратура для измерения параметров полупроводников и диэлектриков: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1988 г.)
ISBN отсутствует
Методы и аппаратура для измерения параметров полупроводников и диэлектриков: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1988 г.)
Серия: Тезисы докладов конференций
ЦНИИ "Электроника", 1988 г.ISBN отсутствует
Книга
Методы и аппаратура для испытания, настройки и измерения параметров СВЧ приборов и их элементов: материалы научно-технической конференции (11-12 октября 1973 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1973 г.
ISBN отсутствует
Методы и аппаратура для испытания, настройки и измерения параметров СВЧ приборов и их элементов: материалы научно-технической конференции (11-12 октября 1973 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1973 г.
ISBN отсутствует
Книга
Кожинова, Л.В.
Методы и оборудование для беспроволочной сборки ИС и полупроводниковых приборов
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Кожинова, Л.В.
Методы и оборудование для беспроволочной сборки ИС и полупроводниковых приборов
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы и оборудование для формообразования объемно-пористых анодов оксидно-полупроводниковых и ок...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Методы и оборудование для формообразования объемно-пористых анодов оксидно-полупроводниковых и ок...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
Мальцев, В.Н.
Методы и оборудование контроля печатных узлов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1979-1985 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Мальцев, В.Н.
Методы и оборудование контроля печатных узлов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1979-1985 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1986 г.)
ISBN отсутствует
Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур: (материалы научно-технического совещания, сентябрь 1986 г.)
Серия: Тезисы докладов конференций
ЦНИИ "Электроника", 1986 г.ISBN отсутствует
Книга
Методы и средства повышения качества проектирования: (материалы Второй межотраслевой научно-технической конференции, октябрь 1976 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Методы и средства повышения качества проектирования: (материалы Второй межотраслевой научно-технической конференции, октябрь 1976 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Дубравина, Анна Васильевна
Методы и средства получения высокого вакуума с помощью низких температур
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует
Дубравина, Анна Васильевна
Методы и средства получения высокого вакуума с помощью низких температур
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует
Книга
Шабанов, Е.М.
Методы и средства производственного контроля параметров МПФС из современных сверхвысококоэрцитивн...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1982 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Шабанов, Е.М.
Методы и средства производственного контроля параметров МПФС из современных сверхвысококоэрцитивн...: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967-1982 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Книга
Даргис, А.Ю.
Методы измерения вольтамперных характеристик сильными СВЧ полями: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1951-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Даргис, А.Ю.
Методы измерения вольтамперных характеристик сильными СВЧ полями: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1951-1981 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1983 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках
ЦНИИ "Электроника", 1976 г.
ISBN отсутствует
Книга
Тучин, В.В.
Методы измерения параметров волоконных световодов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980...1986 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1987 г.
ISBN отсутствует
Тучин, В.В.
Методы измерения параметров волоконных световодов: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1980...1986 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1987 г.
ISBN отсутствует
Книга
Будник, В.В.
Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует
Будник, В.В.
Методы измерения параметров высокочастотных систем ЭВП с протяженным взаимодействием
ЦНИИ "Электроника", 1974 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1974-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Методы измерения профиля показателя преломления волоконных световодов и заготовок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1974-1984 гг.)
ЦНИИ "Электроника", 1985 г.
ISBN отсутствует
Книга
Лазутин, Ю.Д.
Методы исследований абстрактных технологических процессов
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Лазутин, Ю.Д.
Методы исследований абстрактных технологических процессов
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
Книга
Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов: (межведомственный семинар, июль 1975 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Методы исследования свойств и состояния поверхностей материалов: (межведомственный семинар, июль 1975 г.)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
Серии:
- Обзоры по электронной технике
- Тезисы докладов конференций
- Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике
- Труды конференции по электронной технике
- Методические материалы
- Тезисы докладов и рекомендации конференций, совещаний и семинаров
- Электронная техника
- Тематические указатели литературы
- Серия "Технология, организация производства и оборудование"