Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Солодуха, В.А.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга
Солодуха, В.А.
Металлокерамические корпуса мощных полупроводниковых приборов: монография
ГГУ им. Ф.Скорины, 2010 г.
ISBN 978-985-439-488-6
ОХОФ
Солодуха, В.А.
Металлокерамические корпуса мощных полупроводниковых приборов: монография
ГГУ им. Ф.Скорины, 2010 г.
ISBN 978-985-439-488-6
ОХОФ
Заказать 
На полку
Книга
Технология герметизации интегральных схем с пониженным содержанием подкорпусной влаги
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-540-9
ОХОФ
Технология герметизации интегральных схем с пониженным содержанием подкорпусной влаги
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-540-9
ОХОФ
Многотомник
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Статья
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Белоус, А.И.
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс "белой магии"
ISBN 9785948365008
ОХОФ, ОНЛ, ЧЗ N1
Белоус, А.И.
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс "белой магии"
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2017 г.ISBN 9785948365008
ОХОФ, ОНЛ, ЧЗ N1
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Эволюция спектров теплового сопротивления мощных МОП-транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии ...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Эволюция спектров теплового сопротивления мощных МОП-транзисторов КП723 и КП7209 при воздействии ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Технологии субмикронных структур микроэлектроники
Беларуская навука, 2018 г.
ISBN 978-985-08-2298-7
ОХОФ, ОНЛ
Технологии субмикронных структур микроэлектроники
Беларуская навука, 2018 г.
ISBN 978-985-08-2298-7
ОХОФ, ОНЛ
Многотомник
Белоус, А.И.
Программные и аппаратные трояны - способы внедрения и методы противодействия. Первая техническая ...: в 2 книгах
ISBN отсутствует
Белоус, А.И.
Программные и аппаратные трояны - способы внедрения и методы противодействия. Первая техническая ...: в 2 книгах
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2018 г.ISBN отсутствует
Статья
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует
Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Электрофизический метод контроля параметров автомобильных масел
б.г.
ISBN отсутствует
Электрофизический метод контроля параметров автомобильных масел
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Формирование и исследование диодов Шоттки на основе силицидов платины и никеля
Formation and investigation of Schottky diodes based on platinum and nickel silicide
б.г.
ISBN отсутствует
Формирование и исследование диодов Шоттки на основе силицидов платины и никеля
Formation and investigation of Schottky diodes based on platinum and nickel silicide
б.г.
ISBN отсутствует
Книга
Белоус, А.И.
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс "белой магии"
ISBN 9785948365008
ОХОФ
Белоус, А.И.
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс "белой магии"
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2020 г.ISBN 9785948365008
ОХОФ
Книга
Белоус, А.И.
Основы проектирования субмикронных микросхем
ISBN 9785948366036
ОХОФ
Белоус, А.И.
Основы проектирования субмикронных микросхем
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2020 г.ISBN 9785948366036
ОХОФ
Книга
Белоус, А.И.
Основы кибербезопасности. Стандарты, концепции, методы и средства обеспечения
ISBN 9785948366128
ОХОФ
Белоус, А.И.
Основы кибербезопасности. Стандарты, концепции, методы и средства обеспечения
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2021 г.ISBN 9785948366128
ОХОФ
Книга
Белоус, А.И.
Основы кибербезопасности. Стандарты, концепции, методы и средства обеспечения
ISBN 9785948366128
ОХОФ, ОНЛ, ЧЗ N1
Белоус, А.И.
Основы кибербезопасности. Стандарты, концепции, методы и средства обеспечения
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2023 г.ISBN 9785948366128
ОХОФ, ОНЛ, ЧЗ N1
Статья
Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует
Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует