Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Пилипенко, В.А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | вперед >>
Физические измерения в микроэлектронике
Доступно
 4 из 5
Книга

Физические измерения в микроэлектронике
Издательство БГУ, 2003 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Быстрые термообработки в технологии СБИС
Доступно
 1 из 1
Книга
Пилипенко, В.А.
Быстрые термообработки в технологии СБИС
Издательство БГУ, 2004 г.
ISBN 985-476-251-3
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Исследование физико-математического состояния поверхности кристаллического кремния маятниковым ме...
Статья
Джилавдари, Игорь Захарович
Исследование физико-математического состояния поверхности кристаллического кремния маятниковым ме...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Формирование геттерирующих слоев в кремнии с применением непрерывного лазерного излучения
Статья
Вечер, Д.В.
Формирование геттерирующих слоев в кремнии с применением непрерывного лазерного излучения
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Оценка упругого натяжения поверхности материалов маятниковым методом
Статья
Джилавдари, Игорь Захарович
Оценка упругого натяжения поверхности материалов маятниковым методом
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Влияние адгезии на период свободных микрокачаний маятника
Статья
Джилавдари, Игорь Захарович
Влияние адгезии на период свободных микрокачаний маятника
About influence of adhesion for the free microswiings of a pendulum
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...
Доступно
 1 из 1
Электронный ресурс

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...: отчет о НИР (промежуточный) : Т09-012
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...: отчет о НИР (заключительный) : Т 09-012
[б. и.], 2011 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


На полку На полку

Исследование полупроводниковых структур с диэлектрической изоляцией методом отраженного лазерного...
Экз. чит. зала
Автореферат
Пилипенко, В.А.
Исследование полупроводниковых структур с диэлектрической изоляцией методом отраженного лазерного...: автореферат диссертации ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04
1979 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР


На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.1.
2013 г.
ISBN 978-985-684-544-7
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...
Многотомник

Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0


На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.2.
2013 г.
ISBN 978-985-684-545-4
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.3.
2013 г.
ISBN 978-985-684-546-1
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
Статья
Воробей, Роман Иванович
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

.
Доступно
 1 из 1
Книга

Вып.10(147). : .
Серия: Электронная техника
ЦНИИ "Электроника", 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля элекрофизических параметров полупроводниковых пл...
Статья
Воробей, Роман Иванович
Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля элекрофизических параметров полупроводниковых пл...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
Книга (аналит. описание)
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контр...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контр...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121