Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Пилипенко, В.А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
<< назад | 1 | 2
Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Статья

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.1.
2013 г.
ISBN 978-985-684-544-7
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.2.
2013 г.
ISBN 978-985-684-545-4
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.3.
2013 г.
ISBN 978-985-684-546-1
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...: отчет о НИР (заключительный) : Т 09-012
[б. и.], 2011 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


На полку На полку

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...
Доступно
 1 из 1
Электронный ресурс

Универсальный метод и устройство для исследования трения качения и адгезии на микроучастках повер...: отчет о НИР (промежуточный) : Т09-012
[б. и.], 2010 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку

Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
Книга (аналит. описание)

Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Физические измерения в микроэлектронике
Доступно
 4 из 5
Книга

Физические измерения в микроэлектронике
Издательство БГУ, 2003 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Формирование геттерирующих слоев в кремнии с применением непрерывного лазерного излучения
Статья
Вечер, Д.В.
Формирование геттерирующих слоев в кремнии с применением непрерывного лазерного излучения
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Статья

Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Статья

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis – as a Method for Study the Aluminium-Polysilicon Interface after Exposure with Long-Term and Rapid Thermal Annealing
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121