Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Пилипенко, В.А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
<< назад | 1 | 2
Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Статья

Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
Книга (аналит. описание)

Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
Книга (аналит. описание)

Контроль параметров границы раздела кремний-двуокись кремния после быстрой термообработки методам...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Основы силовой электроники
Доступно
 1 из 1
Книга

Основы силовой электроники
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2019 г.
ISBN 9785948365657
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
Книга (аналит. описание)

Установка для бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированных и ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Способ формирования геттерирующего скрытого слоя
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Способ формирования геттерирующего скрытого слоя
Method of formation of the gettering latent layer
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Характеризация технологических процессов получения туннельного окисла с использованием методов ск...
Characterisation of tunneling oxidation technological process using scanning probe electrometry technique
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Статья

Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ – как метод исследования границы раздела алюминий-п...
Energy-Dispersive X-Ray Microanalysis – as a Method for Study the Aluminium-Polysilicon Interface after Exposure with Long-Term and Rapid Thermal Annealing
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Статья

Структура планарной поверхности кремниевых пластин до и после быстрой термообработки
Structure of Silicon Wafers Planar Surface before and after Rapid Thermal Treatment
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Диагностика методом ЭПР стабильности электрофизических параметров многофункционального диэлектрик...
Книга (аналит. описание)

Диагностика методом ЭПР стабильности электрофизических параметров многофункционального диэлектрик...
EPR diagnostics of the stability of electrophysical parameters of a multifunctional dielectric in the Si–SiO2 system during its technological modification
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Влияние импульсной фотонной обработки в среде азота на надёжность подзатворного оксида кремния, п...
Статья
Ковальчук, Н.С.
Влияние импульсной фотонной обработки в среде азота на надёжность подзатворного оксида кремния, п...
Effect of Pulsed Photon Processing in a Nitrogen Ambient on the Reliability of Gate Silicon Oxide Obtained by Pyrogenic Oxidation
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121