Электронный каталог НБ БНТУ

👓
rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Филипеня, В.А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)
Буслюк, В.В.
Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Статья
Оджаев, В.Б.
Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикам
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Статья

Влияние технологических примесей на электрофизические параметры МОП-транзистора
Influence of technological inpurities on electrical parameters of MOS transistor
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Исследование влияния технологических примесей на вольт-амперные характеристики биполярного n-p-n ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст

полный текст


На полку На полку


Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработать методики и средства бесконтактной характеризации полупроводниковых структур с субмикр...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР


На полку На полку


Статья

Характеризация электрофизических свойств границы раздела кремний-двуокись кремния с использование...
Characterization of the electrophysical properties of silicon-silicon dioxide interface using probe electrometry methods
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2026  v.20.218