Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Петлицкий, А.Н.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | вперед >>

Доступно
 3 из 3
Книга

Т.1.
2013 г.
ISBN 978-985-684-544-7
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...
Многотомник

Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0


На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.2.
2013 г.
ISBN 978-985-684-545-4
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга

Т.3.
2013 г.
ISBN 978-985-684-546-1
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
Статья
Воробей, Роман Иванович
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Разработка метода и изготовление экспериментальной установки для неразрушающей бесконтактной хара...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработка метода и изготовление экспериментальной установки для неразрушающей бесконтактной хара...: отчет о НИР (заключительный) : договор N 2638/11б от 27.05.2011 г. : задания 1.1.10
[б. и.], 2013 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР


На полку На полку

Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля элекрофизических параметров полупроводниковых пл...
Статья
Воробей, Роман Иванович
Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля элекрофизических параметров полупроводниковых пл...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикам
Статья
Оджаев, В.Б.
Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикам
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Получение многослойных материалов как один из способов защиты элементов электроники от воздействи...
Книга (аналит. описание)
Реут, Олег Павлович
Получение многослойных материалов как один из способов защиты элементов электроники от воздействи...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
Книга (аналит. описание)
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Уменьшение шумовой составляющей сигнала сканирующего зонда Кельвина
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Исследование влияния технологических примесей на вольт-амперные характеристики биполярного n-p-n ...
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Исследование влияния технологических примесей на вольт-амперные характеристики биполярного n-p-n ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Установка для неразрушающей бесконтактной характеризации пластин со структурой кремний-диэлектрик...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Разработать методики и средства бесконтактной характеризации полупроводниковых структур с субмикр...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработать методики и средства бесконтактной характеризации полупроводниковых структур с субмикр...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР


На полку На полку

Влияние технологических примесей на электрофизические параметры МОП-транзистора
Статья

Влияние технологических примесей на электрофизические параметры МОП-транзистора
Influence of technological inpurities on electrical parameters of MOS transistor
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах ...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнительная оценка качества посадки кристаллов на припой и эвтектику в мощных МОП-транзисторах ...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
Книга (аналит. описание)
Буслюк, В.В.
Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контр...
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Реализация режима модулированной поверхностной фотоЭДС в конструкции средств неразрушающего контр...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Сравнение методов T3STER и тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии для исследовани...
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121