Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Петлицкий, А.Н.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Алгоритм неразрушающих измерений пространственного распределения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
б.г.
ISBN отсутствует
Тявловский, Андрей Константинович
Алгоритмы обработки визуализированных изображений при картировании дефектов полупроводниковых пла...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Буслюк, В.В.
Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
б.г.
ISBN отсутствует
Буслюк, В.В.
Анализ вольтамперных характеристик диодов-генераторов широкополосного шума
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Анализ дефектов слоя посадки кристаллов в мощных МОП-транзисторах из разностных тепловых спектров...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Оджаев, В.Б.
Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикам
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Анализ качества подзатворного диэлектрика МОП-структур по вольт-фарадным характеристикам
б.г.
ISBN отсутствует
Многотомник
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Биполярные n-p-n транзисторы в интегральных схемах с расширенным интервалом области максимального...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Визуализация пространственного распределения примеси железа в кремнии на основе методов зондовой ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Влияние ионной имплантации азота на эксплуатационные параметры силовых МОП-транзисторов
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Влияние технологических примесей на электрофизические параметры МОП-транзистора
Influence of technological inpurities on electrical parameters of MOS transistor
б.г.
ISBN отсутствует
Влияние технологических примесей на электрофизические параметры МОП-транзистора
Influence of technological inpurities on electrical parameters of MOS transistor
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Вольт-амперные характеристики p-i-n-фотодиодов с геттерами, созданными ионной имплантацией сурьмы
Voltage-current characteristics of p-i-n photodiodes with getters created by ion implantation of antimony
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Вольт-амперные характеристики p-i-n-фотодиодов с геттерами, созданными ионной имплантацией сурьмы
Voltage-current characteristics of p-i-n photodiodes with getters created by ion implantation of antimony
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует
Гусев, Олег Константинович
Зондовые зарядочувствительные приборы и методы для контроля и визуализации электрофизических пара...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Тявловский, Андрей Константинович
Зондовые электрометрические методы для измерения удельного электрического сопротивления ионно-лег...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Измерительная система контроля полупроводниковых пластин СКАН-2013
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Измерительный преобразователь для неразрушающей характеризации полупроводниковых структур с испол...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Использование эффекта поверхностной фотоэдс для определения примеси железа в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Оджаев, В.Б.
Исследование влияния технологических примесей на вольт-амперные характеристики биполярного n-p-n ...
б.г.
ISBN отсутствует
Оджаев, В.Б.
Исследование влияния технологических примесей на вольт-амперные характеристики биполярного n-p-n ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Исследование степени дефектности полупроводниковой пластины методами зондовой электрометрии и элл...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытаниях
Studies of changes in thermal resistance of high-power mosfets during thermal tests
б.г.
ISBN отсутствует
Исследования изменений теплового сопротивления мощных МОП транзисторов при термоиспытаниях
Studies of changes in thermal resistance of high-power mosfets during thermal tests
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Метод бесконтактного измерения удельного электрического сопротивления барьерных слоев
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует
Бумай, Юрий Александрович
Методика на основе метода электротепловой спектрометрии для исследования профилей растекания тепл...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Воробей, Роман Иванович
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
б.г.
ISBN отсутствует
Воробей, Роман Иванович
Методические основы определения энергетического спектра заряда на ловушках в структуре кремний-ди...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Методы и средства фотостимулированной зондовой электрометрии для контроля параметров полупроводни...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Реут, Олег Павлович
Получение многослойных материалов как один из способов защиты элементов электроники от воздействи...
б.г.
ISBN отсутствует
Реут, Олег Павлович
Получение многослойных материалов как один из способов защиты элементов электроники от воздействи...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Применение методов сканирующей зондовой электрометрии в технологическом контроле производства изд...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
б.г.
ISBN отсутствует
Жарин, Анатолий Лаврентьевич
Принципы построения электрометрического зонда для контроля пространственного распределения поверх...
б.г.
ISBN отсутствует
Экз. чит. зала
Электронный ресурс
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Экз. чит. зала
Электронный ресурс
Разработать методики и средства бесконтактной характеризации полупроводниковых структур с субмикр...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Разработать методики и средства бесконтактной характеризации полупроводниковых структур с субмикр...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2015 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР