Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Подлепецкий, Б.И.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Физические основы микротехнологии
Доступно
 9 из 9
Книга
Броудай, Ивор
Физические основы микротехнологии
Мир, 1985 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Радиационная стойкость полупроводниковых приборов и интегральных схем
Доступно
 1 из 1
Книга
Патрикеев, Л.Н.
Радиационная стойкость полупроводниковых приборов и интегральных схем: [учебное пособие]
МИФИ, 1975 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Микроэлектроника в приборостроении
Статья
Першенков, В.С.
Микроэлектроника в приборостроении
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Моделирование радиационной чувствительности датчиков водорода с МДП-транзисторными элементами
Статья
Подлепецкий, Б.И.
Моделирование радиационной чувствительности датчиков водорода с МДП-транзисторными элементами
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Влияние температуры МДП-транзисторных чувствительных элементов на характеристики датчиков водорода
Статья
Подлепецкий, Б.И.
Влияние температуры МДП-транзисторных чувствительных элементов на характеристики датчиков водорода
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
Статья
Барбашов, В.М.
Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121