Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Вабищевич, С.А.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Бринкевич, Д.И.
Индентирование облученных электронами пленок позитивных новолачных фоторезистов на кремнии
Indentation of electron irradiated positive novolac photoresists films on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Индентирование облученных электронами пленок позитивных новолачных фоторезистов на кремнии
Indentation of electron irradiated positive novolac photoresists films on silicon
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Черный, Владимир Владимирович
Исследование прочностных свойств пленок фоторезиста на кремнии методом склерометрии
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Черный, Владимир Владимирович
Прочностные свойства и морфология поверхности структур фоторезист ФП9120-кремний
б.г.
ISBN отсутствует
Черный, Владимир Владимирович
Прочностные свойства и морфология поверхности структур фоторезист ФП9120-кремний
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Прочностные свойства пленок диазохинонноволачного фоторезиста ФП9120, имплантированных ионами сер...
Strength properties of diazoquinonenovolac photoresist FP9120 films implanted with silver ions
б.г.
ISBN отсутствует
Прочностные свойства пленок диазохинонноволачного фоторезиста ФП9120, имплантированных ионами сер...
Strength properties of diazoquinonenovolac photoresist FP9120 films implanted with silver ions
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Прочностные свойства пленок фоторезиста AZ nLOF 5510
Strength properties of AZ nLOF 5510 photoresist films
б.г.
ISBN отсутствует
Прочностные свойства пленок фоторезиста AZ nLOF 5510
Strength properties of AZ nLOF 5510 photoresist films
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует
Бринкевич, Д.И.
Склерометрический метод измерения микротвердости пленок фоторезиста на кремнии
Measurement of microhardness of photoresist films on silicon by the scratching method
б.г.
ISBN отсутствует
Многотомник
Физика: учебное пособие для студентов технических вузов, в 2 ч.
РИВШ, 2009 г.
ISBN 978-985-500-270-4
Физика: учебное пособие для студентов технических вузов, в 2 ч.
РИВШ, 2009 г.
ISBN 978-985-500-270-4

На полку 
