Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Чигирь, Г.Г.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
На полку 
Книга
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
ОХОФ
Белоус, А.И.
Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
Интегралполиграф, 2008 г.
ISBN 978-985-684-511-9
ОХОФ
Заказать
Книга
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Многотомник
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Базовые технологические процессы изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем...: в 3 т.
Интегралполиграф, 2013 г.
ISBN 978-985-684-543-0
Статья
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Солодуха, В.А.
Измерение глубины нарушенного слоя на поверхности кремниевых пластин методом оже-спектроскопии
Depth Measurement of Disrupted Layer on Silicon Wafer Surface using Auger Spectroscopy Method
б.г.
ISBN отсутствует
Электронный ресурс
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР
Разработать метод бесконтактного контроля однородности распределения параметров ионно-легированны...: отчет о НИР (заключительный)
[б. и.], 2018 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР