Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник таблиц УДК

К списку таблиц УДК

621.382.049.772

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Магнитные металлические пленки в микроэлектронике
Доступно
 2 из 2
Книга
Иванов, Р.Д.
Магнитные металлические пленки в микроэлектронике
Советское радио, 1980 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Поликристаллические пленки полупроводников в микроэлектронике
Доступно
 1 из 1
Книга
Колешко, Владимир Михайлович
Поликристаллические пленки полупроводников в микроэлектронике
Наука и техника, 1978 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Полупроводниковые пленки для микроэлектроники
Доступно
 2 из 2
Книга

Полупроводниковые пленки для микроэлектроники
Наука, Сибирское отделение, 1977 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Современное состояние и тенденции развития тонкопленочной технологии
Доступно
 1 из 1
Книга
Гимпельсон, В.Д.
Современное состояние и тенденции развития тонкопленочной технологии
Серия: Приборы, средства автоматизации и системы управления : обзорная информация
ЦНИИТЭИприборостроения, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Разработка методов неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных...
Экз. чит. зала
Электронный ресурс

Разработка методов неразрушающего контроля дефектов композитных структур элементов микросенсорных...: отчет о НИР (заключительный), ГБ 16-36
[б. и.], 2020 г.
ISBN отсутствует
ЧЗ НР

полный текст


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121