Электронный каталог НБ БНТУ

rus
Научная библиотека БНТУ
Режим работы: Пн-Пт.
- читальные залы с 9:00 до 20:00
- абонементы с 9:00 до 19:00
Сб. с 9:00 до 16:45. Вс. - выходной.
Адреса: г. Минск, ул. Я. Коласа, 16 (читальные залы)
пр. Независимости, 65 (абонементы и читальные залы)

ОНЛАЙН-ЗАКАЗ книг из каталога

ФИЛИАЛЫ

КНИГООБЕСПЕЧЕННОСТЬ

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник таблиц УДК

К списку таблиц УДК

621.382.049.77.019.3

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным
Доступно
 1 из 1
Книга

Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным
Издательство Воронежского университета, 1996 г.
ISBN 5-7455-0865-5
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Доступно
 7 из 8
Книга
Чернышев, А.А.
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Радио и связь, 1988 г.
ISBN 5-256-00042-X
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Геронтология кремниевых интегральных схем
Доступно
 1 из 1
Книга
Горлов, М.И.
Геронтология кремниевых интегральных схем
Наука, 2004 г.
ISBN 5-02-033452-9
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Доступно
 2 из 2
Книга
Воробьев, В.Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-006639-7
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
Доступно
 1 из 1
Книга

Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Надежность твердых интегральных схем
Доступно
 2 из 2
Книга
Ефимов, И.Е.
Надежность твердых интегральных схем
Издательство стандартов, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Физика надежности интегральных полупроводниковых схем. Методы анализа причин отказов
Доступно
 1 из 1
Книга
Долматова, Т.В.
Физика надежности интегральных полупроводниковых схем. Методы анализа причин отказов: (материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля
Знание, 1978 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Надежность микроэлектронных схем и элементов
Доступно
 1 из 1
Книга

Надежность микроэлектронных схем и элементов: сборник научных трудов
Наукова думка, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...
Доступно
 1 из 1
Книга
Садчиков, П.И.
Расчет надежности интегральных схем на основе коэффициентных методик и многокомпонентной физико-м...
Серия: В помощь слушателям Семинара по надежности и прогрессивным методам контроля качества продукции при Политехническом музее
Знание, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

Оценка безотказности интегральных микросхем
Доступно
 4 из 4
Книга
Смирнов, Н.И.
Оценка безотказности интегральных микросхем
Серия: Библиотека инженера по надежности
Радио и связь, 1983 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ


Заказать Заказать

На полку На полку

Проблемы надежности многоуровневой металлизации больших интегральных схем
Доступно
 1 из 1
Книга
Пыхтунова, А.И.
Проблемы надежности многоуровневой металлизации больших интегральных схем: (краткий обзор по иностранным источникам)
Серия: Обзоры по электронной технике
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ


Заказать Заказать

На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.121