Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник таблиц УДК
К списку таблиц УДК
621.382.049.77.019.3
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Методы повышения надежности микросхем на основе тестовых структур
ГГУ им. Ф.Скорины, 2011 г.
ISBN 978-985-439-551-7
ОХОФ
Книга
Надежность микроэлектронных схем и элементов: сборник научных трудов
Наукова думка, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Надежность микроэлектронных схем и элементов: сборник научных трудов
Наукова думка, 1982 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Ефимов, И.Е.
Надежность твердых интегральных схем
Издательство стандартов, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Ефимов, И.Е.
Надежность твердых интегральных схем
Издательство стандартов, 1979 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Чернышев, А.А.
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Радио и связь, 1988 г.
ISBN 5-256-00042-X
ОХОФ, ОНЛ
Чернышев, А.А.
Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
Радио и связь, 1988 г.
ISBN 5-256-00042-X
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Смирнов, Н.И.
Оценка безотказности интегральных микросхем
Радио и связь, 1983 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Смирнов, Н.И.
Оценка безотказности интегральных микросхем
Радио и связь, 1983 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ, ОНЛ
Книга
Пыхтунова, А.И.
Проблемы надежности многоуровневой металлизации больших интегральных схем: (краткий обзор по иностранным источникам)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Пыхтунова, А.И.
Проблемы надежности многоуровневой металлизации больших интегральных схем: (краткий обзор по иностранным источникам)
ЦНИИ "Электроника", 1975 г.
ISBN отсутствует
ОХОФ
Книга
Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным
Издательство Воронежского университета, 1996 г.
ISBN 5-7455-0865-5
ОХОФ
Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным
Издательство Воронежского университета, 1996 г.
ISBN 5-7455-0865-5
ОХОФ
Книга
Воробьев, В.Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-006639-7
ОХОФ, ОНЛ
Воробьев, В.Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-006639-7
ОХОФ, ОНЛ